本發明屬于閃存芯片可靠性測試技術,尤其是涉及一種通過操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。本發明首先通過測試裝置采集樣本閃存芯片的操作時間或電流,然后對數據進行分析處理,建立數據與閃存芯片可靠性的對應關系,再由測試裝置收集待測閃存芯片的操作時間和電流,最后結合可靠性的對應關系判斷待測芯片的可靠性。本發明中提出的判斷閃存芯片可靠性方法與一般方法相比,不易受到閃存中存儲數據取值的干擾,同時克服了一般方法無法有效防止閃存突然失效而造成數據損失的缺點。
本發明屬于封裝模塊監測技術領域,公開了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的在線監測方法和裝置,裝置包括投影云紋模塊、紅外成像模塊、監測分析模塊;方法包括:通過投影云紋模塊獲得待測封裝模塊樣品的第一翹曲信息;通過紅外成像模塊獲得待測封裝模塊樣品的第二翹曲信息;根據第一翹曲信息、第二翹曲信息獲得監測結果信息。本發明解決了現有技術中無法對封裝模塊的翹曲變形及缺陷進行在線監測的問題,能夠對實際工業生產過程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進行在線監測。
本實用新型涉及一種加筋板軸壓試驗中加強筋側向變形的同步測量試驗裝置,包括壓縮試驗機和夾具,夾具安裝于壓縮試驗機上用于夾緊加筋板的兩端,還包括激光測距儀,激光測距儀正對加筋板上的加強筋放置,用于同步測量試驗過程中加強筋的側向位移。本實用新型在常規加筋板試驗的基礎上,引入激光測距儀設備,用于準確測量試驗過程中加筋板上加強筋的側向位移,進一步地,對壓縮試驗機記錄的軸向壓力和時間的關系曲線F?t及通過激光測距儀記錄的側向位移和時間的關系曲線D?t進行數據處理,得到側向位移和軸向壓力的關系曲線D?F,可以更準確地計算加筋板的極限承載力,為分析出加筋板承載失效的真實原因奠定基礎。
本發明屬于封裝模塊監測技術領域,公開了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測方法及裝置,裝置包括投影云紋模塊、X射線模塊、監測分析模塊;方法包括:通過投影云紋模塊獲得待測封裝模塊樣品的第一翹曲信息;通過X射線模塊獲得待測封裝模塊樣品的第二翹曲信息;根據第一翹曲信息、第二翹曲信息獲得監測結果信息。本發明解決了現有技術中無法對封裝模塊的翹曲變形及缺陷進行三維在線監測的問題,能夠對實際工業生產過程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進行三維在線監測。
本發明涉及一種超高強鋼動態斷裂特性的表征測試方法,根據現有設備技術參數及超高強鋼強度高、韌性相對較低的特點,設計拉伸條件下具有不同應力狀態的試樣,根據應力三軸度從小到大為剪切、拉剪、單向拉伸、單孔拉伸、及不同尺寸缺口試樣,并根據不同試樣在不同應變速率下的斷裂特性設計相應試驗矩陣,完成超高強鋼動態斷裂性能的試驗表征。試驗采用3D非接觸式高速攝像光學應變采集系統,同步記錄試驗過程中試樣變形,采集材料不同應力狀態及速率下失效數據,數據經處理可在后續數值模擬分析中對相應模型進行標定,完成精準化建模。本發明充分利用設備特點,為后續碰撞模擬分析提供數據支持,大大提高車身安全設計評估的效率,有效降低成本。
本發明公開了一種芯片測試裝置及芯片測試方法。根據本發明實施例的芯片測試裝置包括測試單元,用于向芯片提供測試信號,以及獲取芯片反饋的反饋信號;探針卡,用于測試單元和芯片之間的電連接,探針卡用于測試信號和反饋信號的傳遞;以及去耦單元,與測試單元電連接,其中,反饋信號包括正常芯片反饋的正常反饋信號和失效芯片反饋的異常反饋信號,當探針卡與芯片電連接時,去耦單元過濾異常反饋信號。根據本發明實施例的芯片測試裝置及芯片測試方法,設置有過濾異常反饋信號的去耦單元,能夠防止異常反饋信號與正常反饋信號產生耦合效應,從而防止在測試時出現將合格芯片判斷為失效芯片的情況。
本發明屬于半導體存儲器測試技術領域,公開了一種半導體存儲器老化測試系統及方法,其系統包括測試核心板和測試板;測試核心板根據上位機指令生成測試信號和電源信號進行調整后提供給DUT,并將DUT輸出信號與預設值比較得到初步測試結果分區存儲,并上傳到上位機;測試板用于承載DUT,為DUT提供時鐘信號和片選信號,單塊測試板設置有多個測試位,DUT老化測試可單顆進行或多顆DUT同時進行;其方法通過在測試核心板上輸出各種類型的測試信號,并對測試信號進行延時調整、加強驅動、波形控制等處理,以及對電源信號進行補償,對測試結果通過分區設置的存儲區分別存儲,實現老化測試中對單個DUT測試過程控制的管理和失效分析的功能,并增加了DUT同測數,減少了測試資源開銷。
本發明公開了一種基于多源狀態監測信息和可靠性特征融合的液壓設備早期故障預測方法,旨在提供一種能夠識別早期故障信號,降低預警的誤報和漏報,提高故障預測的準確率。其技術方案的要點是,挖掘液壓設備的監測信息與狀態評價之間的關聯規則;構建基于多源傳感器監測數據融合方法,實現監測數據降維;融合監測信息與可靠性壽命數據,構建參數化的失效率函數(proportional?covariate?model,簡稱PCM),預測設備的早期故障演變過程,為液壓設備運行維護提供有力的預警信息。相對于傳統的液壓故障預測方法,該方法通過在液壓設備狀態監測信息中融合可靠性特征,能夠有效提高預測精度和拓寬預測區間等優點。
本申請涉及一種水質監測用紅外測油儀,涉及水質監測領域,以解決操作人員使用后常常忘記手動關閉測試窗口,導致干燥劑快速失效的問題,其包括紅外測油儀主體和用于監測水質的測試窗口,所述測試窗口設置于紅外測油儀的頂部,所述測試窗口處活動連接有擋板,所述擋板用于開啟和關閉所述測試窗口,所述紅外測油儀的內部設置有復位機構,所述復位機構用于使擋板自動復位,以關閉所述測試窗口。本申請具有設置擋板能夠對測試窗口進行遮擋,從而減緩紅外測油儀主體內部的干燥劑失效,同時通過設置復位機構,使打開的擋板自動關閉,無需操作人員手動關閉,避免造成忘記關閉擋板從而使干燥劑快速失效的效果。
本發明是一種液壓往復密封件的服役疲勞性能測試方法及試驗裝置,其中:伺服電機系統為液壓缸提供可變負載,液壓系統用于控制試驗缸的往復運動,溫控系統用于油液溫度的控制,以此實現對液壓往復密封件實際工況的模擬;通過鋪設在活塞導向套內側的光纖光柵應變傳感器,測得液壓往復密封件的接觸應力,實現對密封件服役狀態的監測;通過計算液壓缸/活塞密封荷載摩擦副系統的疲勞失效概率,實現對液壓往復密封件疲勞失效狀態的分析和判斷;通過試驗可以得到特定服役條件下的液壓往復密封件疲勞壽命測試結果,為液壓往復密封件的可靠性設計提供依據。
本申請提供了一種測試半導體結構擊穿的設備、系統和方法,該設備包括:第一支路和第二支路,第一支路的阻抗大于第二支路的阻抗,第一支路的第一端用于連接半導體結構的第二端,第一支路的第二端接地,第二支路的第一端用于連接電壓源,第二支路的第二端接地,測試半導體結構的擊穿時,半導體結構的第一端連接電壓源,第二支路斷開,第一支路導通以使半導體結構被電壓源擊穿進行擊穿測試,半導體結構被擊穿后,第二支路導通,第一支路斷開。從而可以在半導體結構被擊穿后,減輕對擊穿后的半導體結構的進一步損傷,方便研究人員后期對擊穿失效位置的第一現場進行物理失效分析。
本發明涉及摩托車監測技術領域,特指一種摩托車遠程監測系統,包括遠程監測終端、CCU聯網設備以及遠程服務器和服務器端分板程序,遠程監測終端以MCU為核心,在接受GPS和摩托車OBD數據之后可通過SIM卡通訊模塊向服務器發送摩托車的位置信息以及摩托車行車數據,同時,這些數據可實現本地存儲,存儲在終端自帶存儲卡上,方便維修人員獲得第一手資料,服務器端包含數據庫模塊、數據分析統計及數據顯示模塊,可以實時顯示摩托車的運行狀態及故障信息,通過分析可以判斷摩托車后處理系統是否失效,可為摩托車生產廠家和環境監管部門提供數據參考。
本發明公開了一種基于事件關聯的網絡流量預測方法,步驟如下:步驟1、采集原始數據流或流采樣數據;步驟2、分析事件信息和流量信息;步驟3、使用運行周期中的節點事件序列與流量特征序列建立訓練集;步驟4、持續采集數據,根據協議分析,訓練神經網絡,預測單節點或全網流量。本發明還公開了基于事件關聯的網絡流量預測系統,包括:數據采集模塊;數據建模模塊:將數據建立以節點相關的特征;神經網絡訓練模塊:神經網絡訓練,建立神經網絡;預測模塊:使用流量特征和節點狀態,輸入神經網絡預測后續流量趨勢。本發明實現了對事件相關型網絡的流量預測,解決了傳統時序預測方法在流量的時序和周期上存在的失效問題,可以廣泛應用于網絡領域。
本發明提供一種邊坡監測設計優化方法,包括:確定邊坡隨機參數及其統計量,建立邊坡響應分析模型并選擇候選監測變量;建立邊坡監測設計決策樹;產生樣本空間Z*并對其每一組樣本進行模擬;基于Z*計算給定監測變量組合op條件下不同監測可能值的發生概率;執行先驗可靠度分析以計算先驗失效概率,產生服從F的候選樣本空間ΩF并對其每一組樣本進行模擬;基于ΩF計算給定op條件下不同監測可能值的條件概率;計算給定op條件下不同監測可能值對應的邊坡條件失穩概率;根據決策樹信息特征量化op的預期信息價值;重復執行步驟4、6、7和8,直至完成所有監測組合合集的預期信息價值計算;最大化預期信息價值。本發明解決了邊坡監測優化設計中的計算瓶頸。
本發明公開一種低溫鋰電池測試系統及方法,該方法包括:對鋰電池進行常溫性能測試;對鋰電池進行低溫充放電測試,對鋰電池進行低溫儲存測試,對鋰電池進行低溫循環壽命測試;對鋰電池進行低溫電化學阻抗譜測試:在電池的有效低溫范圍內,分別進行直流阻抗測試和交流阻抗測試;對鋰電池低溫失效原因進行分析。本發明能夠判斷出鋰電池在低溫條件下的極限使用溫度,分析并有效提高低溫電池的循環壽命和使用性能。本發明采取了低溫測試,考慮到自然條件下的因素,更直觀對比出不同溫度條件下的性能差別,具有一定的應用價值。
本實用新型涉及實驗室試劑存放技術領域,尤其涉及一種實驗室試劑分類存儲用帶有檢索標示的存儲箱。其技術方案包括:箱體和冷藏箱,所述箱體前表面中間位置處安裝有箱門,所述箱體前表面中間位置處通過儲存室套接有試劑儲存箱,所述箱體底部兩側位置處均安裝有底座,所述底座底部中間位置處設有位移槽,所述位移槽內的頂部中間位置處通過軸承安裝有調節桿,所述調節桿外表面位于位移槽內部通過螺紋安裝有移動座。本實用新型解決了現有裝置無法對試劑進行分類儲存并標記,試劑查找較為繁瑣,使用便捷性不佳,且無法對試劑進行冷藏保存,試劑在溫度過高時,極易揮發失效,使用壽命不佳的問題,提高了本實用新型的儲存效果。
本申請提供了一種電遷移測試結構、半導體結構及三維存儲器。其中,電遷移測試結構包括測試線和襯底。測試線連接有陽極引線和陰極引線;襯底與陰極引線連接,襯底配置為通過陰極引線接收測試線中的靜電荷。本申請通過將陰極引線接入襯底,從而使襯底能夠通過陰極引線接收測試線中的靜電荷,因此,在測試過程中以及在后續失效分析過程中即使引入了靜電,這部分靜電也可通過陰極引線導出至襯底中,以此減小測試和失效分析過程中測試線發生爆燃的可能性。
本發明涉及存儲器失效分析技術領域,尤其涉及一種測試3D?NAND字線電阻的方法,包括:步驟S1,將3D?NAND減薄至暴露每層字線的第一接觸孔和第二接觸孔;步驟S2,在所述字線的第一端,形成金屬墊覆蓋每層所述字線的所述第一接觸孔,以將每層所述字線的第一端電連接;步驟S3,在所述字線的第二端,選取一層待測試字線,在所述待測試字線的所述第二接觸孔上標記出待測點;步驟S4,使用導電膠將所述金屬墊引出至臨近所述待測點的位置;步驟S5,選取所述導電膠上臨近所述待測點的一量測點,使用探針量取所述量測點與所述待測點之間的電阻值,作為所述待測試字線的所述第一端和所述第二端之間的電阻值。
本發明公開了一種沉井松土檢側壓下沉方法,包括:S1,沉井最后一次接高下沉時,在沉井端部支撐力去除后,若沉井仍難以下沉時,在沉井的外側的土層中開挖深槽,直至沉井下沉至設計標高。本發明通過在沉井外側開挖矩形深槽,使得沉井在堅硬地層、粘性土層下沉時側摩阻大大減小,使得沉井在困難地層終沉時能夠順利下沉;即便當地層與井壁的側摩阻力很大時,也可以逐步增加矩形深槽的長度、寬度、深度,從而使得沉井順利下沉到位,從而避免了沉井在傳統的助沉措施失效時無法順利下沉的難題。本發明提供的一種沉井松土檢側壓下沉方法,簡單可行,施工安全可靠,可廣泛應用于建筑施工領域。
本實用新型公開了一種垂直切分式組合檢查井,該檢查井包括左半井體和右半井體;左半井體與右半井體通過熱板焊接形成一內部中空的井體,井體的外側設置有至少一個用于與支管相導通的支管承口,井體的頂端上設置有一井筒承口。本實用新型提供的檢查井,僅僅包括左半井體和右半井體,兩者通過熱板焊接方式組成井體,焊接的同時完成了井體的裝配和密封,有效解決了現有檢查井通過密封條和螺釘固定而帶來密封失效、連接處滲漏及螺釘銹蝕、松動等潛在隱患;該檢查井具有所需模具小、生產效率高、成本低等特性。
本發明屬于半導體存儲器老化測試技術領域,公開了一種半導體存儲器老化測試核心板,根據上位機的參數配置實時產生測試向量,輸出各種類型的測試信號、各種測試圖形,并對測試信號進行延時調整、加強驅動、波形控制的處理,以及對電源信號進行補償,產生更精準的測試信號的電源信號;提升了用戶對測試波形的自定義能力和靈活性;測試核心板具有分區的存儲器,將測試過程中實時對比測試的數據分區保存,通過分區存儲的數據對失效DUT測試過程進行控制和失效分析,實現了老化測試中對單個DUT測試過程的控制和失效分析;通過存儲器譬如DRAM提供的存儲空間保存每顆DUT的每一個IO足夠長的測試信息,從而能夠讓DUT廠商對各批次失效DUT進行統計分析,改善良率,提升產品可靠性。
本發明公開了一種電氣化鐵路接觸網檢修專用工具,包括液壓撐拉桿(100)和機械撐拉桿(200),液壓撐拉桿(100)置于升降平臺(20)上,在液壓絲杠(8)與立柱(2)的連接部分設置有液壓絲杠轉位機構;機械撐拉桿(200)包括支柱夾頭(12)、多孔調節桿(13)、機械絲杠(14)和勾環(15),在支柱夾頭(12)內設置有夾頭收緊機構使機械撐拉桿(200)卡持在支柱(23)上;本發明所述工具簡單,使用方便,可以同時對受損失效的腕臂(21)拆裝更換、對金屬導線(16)拉出值調整及校正、對承力索(22)及金屬導線(16)收緊,能有效提高電氣化鐵路接觸網檢修的工作效率。
本發明涉及一種納米探針及納米探針測試儀,包括針臂,所述針臂的一端用于連接測試儀,另一端設置有用于同時與待失效分析半導體器件同一極性兩個以上鎢栓接觸的觸頭。在待失效分析半導體器件電學特性測試中,此納米探針可同時接觸待失效分析半導體器件同一極性多個鎢栓,用多個鎢栓共同對應的電學特性表征待失效分析半導體器件的實際電學特性,能夠有效避免個別納米探針觸頭與鎢栓接觸不良,或個別鎢栓下沒有硅化物等因素導致的測試誤差,從而更精準的反映待失效分析半導體器件的實際電學特性。
本實用新型公開了一種圓拱網架建筑結構安全監測裝置,涉及圓拱網架建筑結構的監測,具體地說,涉及一種位移監測裝置。本實用新型由位移傳感器1、信號變送器2、分布式采集器3、數據I/O計算機4、數據服務器5、監測工作站及外圍設備6、信號總線A7、信號總線B8組成;在網架兩側同等高度位置上的對稱節點上,安裝X、Y、Z三方向的位移傳感器,連續檢測節點的位移,用分布采集方式采集位移數據,送入數據庫,通過顯示采集數據、分析位移數據歷史趨勢與安全診斷規則對比診斷,判斷網架的整體變形和安全性。本實用新型可以對圓拱網架建筑結構實施長期、連續、可靠的安全監測,在網架失效或倒塌前發現隱患,避免惡性事故的發生。
本發明屬于鋰離子電池技術領域,具體涉及一種鋰離子電池厚度的預測方法、預測裝置和鋰離子電池。預測方法包括:獲取待測鋰離子電池在當前循環周數下充放電循環過程中的充放電數據;在所述當前循環周數截止后,對所述充放電數據進行特征值提取,得到多個預測用特征值;使用預先構建的神經網絡模型對多個所述預測特征值進行處理,得到所述待測鋰離子電池的預測厚度值。預測裝置包括:獲取模塊、提取模塊和得到模塊。鋰離子電池包括電池管理系統,所述電池管理系統具有鋰離子電池的預測裝置。通過上述技術方案能夠進行在線實時檢測電池的厚度變化,避免離線檢測的人為誤差,能夠為電池厚度失效判斷提供較為精度的提前預測。
本發明公開了一種基于光纖散射的分布式電池監測系統,包括光纖解調分析儀、控制模塊和光纖傳感器,其特征在于,所述光纖解調分析儀連接控制模塊和所述光纖傳感器。本發明提供了一種用于電池儲能系統的分布式光纖原位表征檢測系統及方法,可以實現對大規模儲能系統中各個電池單體的實時多物理場監測。本發明系統通過相干解調沿著傳感光纖的瑞利散射信息,無需提前在傳感光纖內設計布拉格光柵傳感單元,實現對儲能系統的機械性能與熱性能的實時監測,并通過算法評估電池荷電狀態、健康狀態以及提供失效預警,實現高效利用電池功能的同時保障電池儲能系統安全運行,避免熱失控甚至爆炸等事故的發生。
本發明公開了一種智能電表壽命和可靠性預測系統及其方法,屬于電力工程檢測領域。本系統包括依次連接的數據采集單元(100)、數據調整單元(200)、模型建立單元(300)、模型調整單元(400)、計算單元(500)和結果輸出單元(600);本方法是:第1、建立智能電表壽命和可靠性指標;第2、建立智能電表的數學模型,進行元件失效率的計算,利用失效率結果計算得到預測結果從而完成智能電表的壽命和可靠性分析。本發明可解決現有傳統判斷方法有效性低、試驗時間長、結果一致性差等問題,具有操作方便、誤差較小、經濟可行的優點。
本實用新型公開了一種發動機冷卻液自檢保溫裝置,包括冷卻液加注口、冷卻液膨脹箱、處理器、PH傳感器,所述冷卻液加注口底部固定安裝冷卻液膨脹箱,所述冷卻液膨脹箱一側固定安裝有處理控制器,所述冷卻液膨脹箱內部固定安裝有PH值傳感器,本實用新型所達到的有益效果是:本實用新型結構緊湊,使用方便,功能實用,通過每次啟動車輛的瞬間檢測冷卻液的PH值和和冰點值,如果PH值低于7呈現酸性則冷卻液失效,或者冰點值升高也不能使用了,兩種情況出現一種都會在儀表臺顯示處理提醒駕駛員更換,停機狀態下溫度過低時,控制器會控制電機帶動百葉片閉合形成內部獨立空間隔絕外部冷空氣,進行保溫,汽車啟動會自動解除,不會影響正常散熱。
本發明公開了一種基于給定閥值的數控成品電路板性能退化測評方法,包括:(a)選取測評樣板執行加速性能退化試驗,并測量表面絕緣電阻值;(b)執行試驗數據擬合,建立測試樣板的加速性能退化模型;(c)基于失效閥值并結合加速性能退化模型,計算得出測評樣板的偽失效壽命;(d)選取測評樣板的壽命分布模型,并利用偽失效壽命擬合檢驗來計算壽命分布模型的參數;(e)確定測試樣板的壽命分布概率密度函數,計算其平均壽命,由此完成對電路板的性能退化測評過程。通過本發明,能夠克服現有可靠性測評技術中失效數據的不足,同時節約可靠性的測評時間和成本,并有利于系統的維修計劃和優化。
本發明涉及X射線檢測技術,具體涉及一種微電子產品跌落損傷實時監測裝置及方法,該裝置包括電子產品樣品,包括沖擊實驗機和高速X射線成像系統;沖擊實驗機包括電磁釋放器、測速裝置、緩沖裝置、基座、夾具、兩條導軌和沖擊板;X射線成像系統包括X射線發生裝置、圖像增強器、CCD相機、圖像采集裝置和數據分析裝置;X射線發生裝置正對電子產品樣品;圖像增強器與X射線發生裝置處于同一直線;CCD相機依次連接圖像采集裝置、數據分析裝置。該裝置采用高速X射線技術實時監測經跌落沖擊后電子產品失效點的分布,能夠及時發現不合格的失效產品,也為產品零部件材料的選擇,外形設計方面提供可靠的參考,從而提高產品合格率,降低生產成本。
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