本發明涉及X射線檢測技術,具體涉及一種微電子產品跌落損傷實時監測裝置及方法,該裝置包括電子產品樣品,包括沖擊實驗機和高速X射線成像系統;沖擊實驗機包括電磁釋放器、測速裝置、緩沖裝置、基座、夾具、兩條導軌和沖擊板;X射線成像系統包括X射線發生裝置、圖像增強器、CCD相機、圖像采集裝置和數據分析裝置;X射線發生裝置正對電子產品樣品;圖像增強器與X射線發生裝置處于同一直線;CCD相機依次連接圖像采集裝置、數據分析裝置。該裝置采用高速X射線技術實時監測經跌落沖擊后電子產品失效點的分布,能夠及時發現不合格的失效產品,也為產品零部件材料的選擇,外形設計方面提供可靠的參考,從而提高產品合格率,降低生產成本。
聲明:
“微電子產品跌落損傷實時監測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)