本發明屬于閃存芯片可靠性測試技術,尤其是涉及一種通過操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。本發明首先通過測試裝置采集樣本閃存芯片的操作時間或電流,然后對數據進行分析處理,建立數據與閃存芯片可靠性的對應關系,再由測試裝置收集待測閃存芯片的操作時間和電流,最后結合可靠性的對應關系判斷待測芯片的可靠性。本發明中提出的判斷閃存芯片可靠性方法與一般方法相比,不易受到閃存中存儲數據取值的干擾,同時克服了一般方法無法有效防止閃存突然失效而造成數據損失的缺點。
聲明:
“基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)