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本發明公開了一種光學性能檢測裝置及光學性能檢測方法，所述光學性能檢測裝置包括：雷達底座，與所述雷達底座相對設置的背景板，驅動所述背景板移動，以調節所述雷達底座與所述背景板之間的距離的移動組件，以及用于拍攝所述背景板的相機組件；所述背景板靠近所述雷達底座的一側設有刻度。本發明的光學性能檢測裝置及光學性能檢測方法可以同時測出雷達的光束發散角以及出射光軸水平角度，節約時間，提高檢測效率，且通過軟件對多點位置自動計算，減小測量誤差，保證每個光學參數檢測的準確性和穩定性。
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2025年06月20日 ~ 22日 
2025年07月09日 ~ 11日 
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