1.本實用新型涉及分選機技術領域，更具體地說，本實用新型涉及一種半導體制冷晶粒自動分選機。
背景技術：
2.晶粒是組成多晶體的外形不規則的小晶體，而每個晶粒有時又有若干個位向稍有差異的亞晶粒所組成。晶粒的平均直徑通常在0.015~0.25mm范圍內，而亞晶粒的平均直徑通常為0.001mm數量級。而常見的分選機是一種對產品進行重量分級篩選的設備。針對半導體制冷晶粒材料常用自動分選機進行篩分，而自動分選機是能夠根據測量結果將被測件分成合格、正超差、負超差或將合格品再分成若干類，以便選擇裝配的自動化機器。
3.但是在實際使用時，由于晶粒外形差異較大且外形不規則，從而在半導體生產使用中不僅需要對晶粒直徑進行檢測，而且還需要對外形進行檢測，而現有的自動分選機對晶粒的外形檢測效果不佳，因此需要進一步的改進。
技術實現要素：
4.為了克服現有技術的上述缺陷，本實用新型的實施例提供一種半導體制冷晶粒自動分選機，以解決上述背景技術中提出的問題。
5.為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種半導體制冷晶粒自動分選機，包括支撐框架，所述支撐框架頂部的內壁由左至右分別轉動連接連接有一個主動軸和若干個從動軸，所述主動軸與從動軸的表面分別固定套接有主動滾輪和從動滾輪，所述主動滾輪與從動滾輪通過輸送帶傳動連接，所述支撐框架的右側設置有送料裝置，且所述送料裝置的頂部固定安裝有送料管，且所述送料管的一端貼近輸送帶的上表面，所述支撐框架的上方固定安裝有多個固定架，且所述固定架靠近輸送帶處開設有檢測通道，所述檢測通道的內壁設置有檢測機構，所述支撐框架的左側設置有收集架，所述收集架位于輸送帶上方的頂部固定安裝有吸料管，所述收集架的表面固定安裝有合格收集箱和不合格收集箱。
6.為了能夠從三個角度對輸送帶上的晶粒進行觀察檢測，從而提高對晶粒外形的檢測效果，所述檢測機構包括固定安裝在檢測通道內壁的左視角檢測器，俯視角檢測器和右視角檢測器。
7.為了能夠利用動力電機提供輸送帶帶動晶粒移動的動力，所述支撐框架的正面固定安裝有動力電機，且所述動力電機的輸出軸與主動軸固定連接。
8.為了能夠增大吸料管吸料的范圍，從而有助于吸入外形不合格的晶粒，所述吸料管靠近輸送帶的一端固定安裝有吸料盤。
9.為了能夠利用氣泵將檢測出不合格的晶粒吸入不合格收集箱，所述收集架的頂端固定安裝有氣泵，所述氣泵的兩端
聲明：
“半導體制冷晶粒自動分選機的制作方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：蘇州博康智能科技有限公司
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2025年07月09日 ~ 11日 
