本發明涉及一種晶粒裂紋檢測識別方法、計算機裝置和存儲介質。包括:1、通過深度神經網絡模型對橫斷面掃描電鏡圖提取邊緣紋理,獲得整體邊緣紋理圖,獲得橫斷面掃描電鏡圖上的單一顆粒的掩模圖,2、將整體邊緣紋理圖與對應的單一顆粒的掩模圖相乘,獲得單一顆粒的邊緣紋理圖,3、將單一顆粒的邊緣紋理圖實施裂紋分割操作得到單一顆粒的裂紋二值掩模圖,4、將單一顆粒的裂紋二值掩模圖進行形態學骨架化操作,提取出單一顆粒的裂紋結果圖。本申請可獲得單一顆粒的裂紋結果圖。且裂紋的檢測識別結果較為清楚和準確。為后續研究奠定了良好的基礎。本申請得到的裂紋結果圖可以進一步進行量化分析,用于鋰電池壽命預測、正極材料設計優化等研究。
聲明:
“晶粒裂紋檢測識別方法、計算機裝置和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)