本發明屬于光學器件測量技術領域,具體涉及到一種多功能鈮酸鋰集成器件的光學性能測量方法。本方法包括:測量波導器件輸入保偏尾纖的長度;測量波導芯片的長度;測量波導器件輸出保偏尾纖的長度;對準輸入/輸出尾纖慢軸與波導芯片的傳輸軸;獲取第一次分布式偏振串音測量結果;變換波導器件的光注入條件;獲取第二次分布式偏振串音測量結果;通過對數據的分析和計算,獲得波導器件光學參量。該方法可以準確地獲得波導芯片的消光比和線性雙折射,還能夠同時獲得芯片波導輸入/輸出端尾纖的耦合串音、線性雙折射,輸入/輸出延長光纖焊點,以及波導芯片和連接尾纖內部光學缺陷;降低了信號讀取與識別的難度,簡化了數據分析與處理的過程。
聲明:
“多功能鈮酸鋰集成器件的光學性能測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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