本發明公開了一種基于偏微分方程的納米顆粒尺寸測量方法,包括:1)輸入一幅納米顆粒圖像I,將平均曲率流模型和PM模型的濾波結果進行像素級相乘得到濾波后的圖像u;2)采用局部區域擬合模型(RSF)對圖像u進行分割;3)像素標定獲得圖像中每個像素對應的實際尺寸;4)利用目標的凸性Cconv選出不粘連的顆粒;5)通過對顆粒邊界進行最小二乘圓擬合獲得球狀納米顆粒直徑,同時得到內切圓直徑rc,外切圓直徑ri,以及納米顆粒的球狀性本發明可以廣泛地用于催化科學、醫學藥物、新材料、電力工業和復合材料等需要納米顆粒尺寸測量技術的高科技領域。
聲明:
“基于偏微分方程的納米顆粒尺寸測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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