本發明提供一種復合材料層的參數擬合計算方法及系統,方法包括:a、獲取待測樣品的測量光譜,待測樣品包括復合材料層;b、根據復合材料層的參數,基于有效介質EMA通用模型擬合計算待測樣品的擬合光譜;c、若擬合光譜達到所述測量光譜的精度要求,則獲取復合材料層的參數;若擬合光譜未達到測量光譜的精度要求,則調整復合材料層的參數,重復執行b和c進行迭代,直到擬合光譜達到所述測量光譜的精度要求,獲取復合材料層的參數。本發明構建有效介質EMA通用模型,可以通過調整復合材料層的參數,來迭代計算待測樣品的擬合光譜,調整參數時不因為某一種或幾種具體模型的限制,可適用于包含任何復合材料層的待測樣品參數的獲取。
聲明:
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