本發明屬電光功能材料制備領域,涉及一種液晶盒厚測量方法及裝置。本發明方法不需要通過透射光譜的極大和極小所對應的波長值來確定液晶盒厚度,從而免去了尋找透射光譜極大和極小值的不確定性。本發明采用了匯聚光束,有利于提高信噪比。光錐在液晶盒上的截面可以很小,有利于測量盒厚的面分布。本發明采用測量裝置測量液晶盒厚。所述裝置包括:光源,聚光透鏡,待測液晶盒,光纖耦合頭,光譜測量儀。本發明采用的白光LED在可見光500-550nm范圍內具有較平坦的發光譜,從而有利于簡化測量系統,同時計算也很方便。
聲明:
“液晶盒厚測量方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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