本發明提供了一種運行壽命建模方法及運行壽命預測方法,運行壽命建模方法包括以下步驟:獲取t個待測試功率模塊,并對每一待測試功率模塊通電使得待測試功率模塊于同一測試電流下形成具有期望結溫差值的結溫波動;持續對每一待測試功率模塊通電直至每一待測試功率模塊損壞,記錄每一待測試功率模塊自測試起至損壞的通電次數,并以通電次數為X軸,累計失效率為Y軸建立韋布爾概率分布圖;選取韋布爾概率分布圖中累計失效率為m%的測試點,并提取測試點的通電次數為壽命值;將壽命值和結溫差值代入壽命模型,以擬合出一壽命模型曲線。采用上述技術方案后,可適用于各類封裝的功率模塊并適用于各種應用場景,且所建立的模型具有更強的針對性。
聲明:
“功率模塊的運行壽命建模方法及運行壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)