一種計算機系統(300),其根據測試站產生的失效存儲單元標號信息而自動判定與顯示存儲器IC(集成電路)電路小片放大圖像上的存儲單元陣列中失效的存儲單元的實際位置。標號信息包含任何區段標號、I/O標號、列標號、與行標號的組合。存儲器IC電路小片包含多個區段,且區段標號對應于其中具有失效存儲單元的區段。區段包含多個I/O(輸入/輸出)區域,其中I/O標號指定在具有區段標號的區段內、其中具有失效存儲單元的I/O區域。I/O區域包含多個水平傳導結構與垂直傳導結構。列標號指定連接至失效存儲單元的垂直傳導結構,且行標號指定連接至失效存儲單元的水平傳導結構,其中I/O區域具有I/O標號。計算機系統(300)接收標號信息并在計算機系統(300)的GUI(圖形用戶界面)(310)上自動判定與顯示存儲器IC電路小片的第一放大圖像與對應于被突出顯示的區段標號的區段、和/或對應于區段標號的區段的第二放大圖像與對應于被突出顯示的I/O標號的I/O區域、和/或對應于I/O標號的I/O區域的第三放大圖像與對應于被突出顯示的列標號的垂直傳導結構和/或對應于行標號的水平傳導結構的任何組合。
聲明:
“存儲單元陣列中失效存儲單元的實際位置的自動判定與顯示” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)