本實用新型提供了一種失效分析顯微鏡,包括:會聚超透鏡和顯微系統,所述顯微系統包括顯微物鏡;所述會聚超透鏡位于所述顯微系統外側,并與所述顯微物鏡位置對應;所述會聚超透鏡遠離所述顯微物鏡的一側用于放置待測樣品,所述會聚超透鏡用于對所述待測樣品所出射的激發光線進行會聚,并將會聚的激發光線射向所述顯微物鏡。通過本實用新型實施例提供的失效分析顯微鏡,利用會聚超透鏡對待測樣品所出射的激發光線進行會聚,可以增大系統數值孔徑,能夠提高光學顯微鏡的分辨率,可以用來檢測待測樣品的表面缺陷或破損,實現失效分析。并且,使用超表面作為會聚光線的會聚超透鏡,可以有效地減小整體的尺寸,減輕整體的重量。
聲明:
“失效分析顯微鏡” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)