本發明提供一種基于高光譜的蘋果沖擊后損傷參數的無損預測方法,包括以下步驟,獲取樣品跌落損傷的平均壓強和接觸力;獲取樣品的高光譜圖像;對高光譜圖像進行黑白校正,提取校正后高光譜圖像損傷區域的平均光譜;獲取平均光譜的特征波長;建立高光譜數據與損傷參數的預測模型。本發明的有益效果是實現果品力學參數的預測,量化果品的損傷程度,可以為評估果品的機械損傷提供重要依據,相對于傳統的人工感官檢測及計算相關參數的方法,可以節省時間,提高效率,能實現快速、無損評估與預測,對果品市場的產業發展有重要意義。
聲明:
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