本發明公開了一種基于MCU的高耐壓雙隔離CAN收發器測試電路技術裝置,屬于測試電路技術領域,它包括數據信號處理與檢測裝置、FR4基板,所述數據信號處理與檢測裝置包括信號處理芯片、通用MCU、雙路CAN收發器、USB通信接口芯片、SD卡存儲芯片、LCD顯示屏幕、4.2V通用鋰電池、配置電路芯片,所述通用MCU、雙路CAN收發器、USB通信接口芯片、SD卡存儲芯片、LCD顯示屏幕和配置電路芯片連接于FR4基板的上表面上,所述通用MCU與雙路CAN收發器之間采用雙隔離的方式布設。本發明提高了測試的可靠性和易實現性,具有良好的實用價值。
聲明:
“基于MCU的高耐壓雙隔離CAN收發器測試電路技術裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)