本發明涉及一種用X射線熒光光譜分析法測定鐵礦石中鎳鉻銅化學成分的方法,技術方案是:熔劑和試樣的比例為8:1.5,用偏硼酸鋰和四硼酸鋰混合熔劑熔制成玻璃片后,直接用X射線熒光光譜分析儀掃描,測定鎳、鉻、銅的強度,根據強度與含量確定線性關系,然后根據鎳、鉻、銅的強度,計算其中鎳、鉻、銅的含量。本發明的積極效果是:在測定鈣、鎂、硅、鋁、鈦、錳、磷等元素的同時測定鎳、鉻、銅的含量,準確度和精密度均優于傳統的化學分析方法;具有科學性、先進性、適用性、可推廣性,分析時間短、準確度高、重復性好、無污染等特點。
聲明:
“用X射線熒光光譜分析法測定鐵礦石中鎳鉻銅的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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