本發明提供了一種判別鈮酸鋰晶體X軸正負向的方法,步驟如下:(1)首先利用壓電法標定出待測鈮酸鋰晶體Z軸的正負,然后對Z面進行粗略拋光;(2)將待測鈮酸鋰晶體置于錐光干涉光路中,待測鈮酸鋰晶體的X軸和Y軸分別沿水平和豎直方向,使激光沿晶體Z軸正向或負向入射;(3)在晶體X軸方向施加直流電壓,沿著光的傳播方向觀察光屏上的錐光干涉圖樣,根據橢圓干涉環長軸所在象限判斷X軸正負向。本發明基于晶體的電光效應,利用加電后的錐光干涉圖樣對鈮酸鋰晶體X軸正負向進行檢測,測試過程不會損傷晶體,可以在器件制備完成后進一步應用前再進行檢測,無需在加工過程中做標記,有利于提高加工效率。
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