本發明涉及集成光學器件的性能測試領域,具體指的是一種基于FPGA的快速測試鈮酸鋰光學調制器的半波電壓測試方法。該方法用四態調制方式來快速跟蹤鈮酸鋰光學調制器半波電壓的變化,可以測試鈮酸鋰光學調制器在整個溫度變化范圍內的半波電壓值并記錄相對應的溫度變化曲線,其優點是:瞬間內找到精確的半波電壓值,其精度達到10-3以上,并能實時記錄溫度變化曲線與之對應。
聲明:
“鈮酸鋰光學調制器的半波電壓快速測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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