一種芯片測試方法及鋰電池保護芯片的測試電路,所述芯片具有地管腳,所述芯片包括第一芯片單元和第二芯片單元,所述第一芯片單元與所述地管腳連接,所述第二芯片單元不與所述地管腳連接,所述芯片測試方法包括如下步驟:先使所述地管腳懸空;再采用共地源測試裝置對所述第二芯片單元進行測試。所述芯片測試方法可以采用共地源測試裝置對第二芯片單元進行測試,降低了芯片測試的成本且簡單易于實現。所述鋰電池保護芯片的測試電路簡單且易于實現,減小了測試成本。
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