本發明提出了一種雙針納米結構研究開發系統。該系統兩個針狀樣品的針尖由系統工作站控制,按研究開發要求實現亞納米空間范圍精度的控制,甚至接觸,形成納米結構,并同時作為施加和采集信號以及檢測量子效應為特征的各種信號的探針,協同工作達到對納米結構的在線動態構筑及對其過程、現象、效應、性能、結構、機理、控制等進行觀察、檢測、研究和開發。所述針狀樣品或探針由導體,或半導體,或光纖,或磁性材料,或絕緣體,或復合材料制成,而且其尖端是一個由具有各種納米尺度和結構的小面組成的裸露面。兩個探針或/和樣品可以是相同種類的,更可以根據需要用不同材料制作,針狀樣品可同時作為研究對象、構筑納米點結構或器件的組成部分和對其進行研究的探針。
聲明:
“雙針納米結構研究開發系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)