本發明公開一種外場誘導下的非線性光學測試系統。該系統由激光光源、前置光路處理模塊、功能樣品室、后置光路處理模塊、探測模塊、外場控制裝置、數據采集裝置、顯示處理裝置、暗盒等部分組成。該測試系統可進行溫度、電場、磁場或力場等不同的外場加載,實現材料在不同外場誘導下的非線性光學性能測試,為評估新型功能材料的綜合性能提供設備支持,有著迫切的應用需求和廣闊的應用前景。
聲明:
“外場誘導下的非線性光學測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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