高溫粒子紅外光譜輻射特性的測量裝置及測量方法,涉及一種彌散顆粒紅外光譜輻射特性的測量裝置及測量方法,它解決了現有技術無法測量高溫連續光譜范圍內自然狀態粒子輻射特性的問題。本發明采用環境補償算法,實現了對自然狀態下高溫粒子光譜等效透射比的測量,確定了對連續光譜范圍內高溫粒子輻射特性測量的適用性,并為進一步反演高溫粒子復折射率的研究提供可靠的實驗數據和實驗裝置,本發明的測量不確定度小于2%。本發明可以廣泛應用于化工、冶金、動力、建筑、醫藥、生物、食品、航天、軍事及大氣科學等領域。
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