本發明屬于核電裝置檢測技術領域,具體為一種核電裝置密封圈失效原因的綜合判定方法。了解密封圈的工藝參數、運行工況;對失效的密封圈進行外觀檢查;采用三維體視顯微鏡、掃描電鏡等方法對失效的密封圈和密封溝槽進行更為細致的觀察;采用一種或多種表征方法對密封介質進行成分分析;采用一種或多種表征方法對失效密封圈的成分、性能進行分析;檢查密封圈的尺寸與溝槽尺寸是否符合設計要求;綜合以上的分析步驟,從現象到本質,確定密封圈失效的主要原因。本發明通過對EH系統失效密封圈進行系統有效的分析后,可準確、快速地判斷出密封圈失效的原因,進而采取針對性的預防。本方法對電力、石化、化工、冶金等其他領域密封圈的安全使用也具有實用參考價值。
聲明:
“核電裝置EH系統密封圈失效原因的綜合判定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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