其他有色金屬失效分析技術理論與應用

缺陷檢測方法 751     

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本發明提供一種缺陷檢測方法。首先提供一半導體檢測件,且該半導體檢測件中包括至少一缺陷,然后利用一失效分析(FA)技術,于該半導體檢測件的背面檢測出至少一可疑異常區域(suspected area),接著利用一物理能量,于該半導體檢測件背面的該可疑異常區域周圍形成多個參考標記,最后利用該些參考標記,于該半導體檢測件的正面標定出該缺陷的相對位置。

檢測等離子處理反應器的故障狀況的方法和設備 809     

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提供一種用于等離子處理室的失效檢測方法。該方法包括檢測該等離子室內的等離子參數和分析所得到的信息。這種分析使得能夠檢測如工藝副產物聚集、氦泄漏、匹配重調諧時間、差穩定速率和等離子限制損失的失效。還使得能夠在該晶片處理過程中進行失效模式診斷。該方法包括測量該等離子參數與時間的函數和分析得到的數據?？衫萌缣结樀奶綔y器進行監測,該探測器優選地保持在該等離子室內基本上與該室內的表面共面并且直接測量凈離子通量和其他等離子參數。

用于在控制回路中檢測氣動操作控制閥的故障的方法 1133     

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本發明涉及一種用于在控制回路中檢測氣動操作控制閥的故障的方法,該控制回路包括致動器,具有控制用流體的閥裝置的二級氣動裝置,該控制用流體的閥裝置響應一個壓力信號用于控制進入所述致動器的控制用流體的流動,一個接收I/P驅動信號并產生壓力信號的I/P轉換器,及將上述I/P驅動信號發送至I/P轉換器的處理器,該方法包括:限定控制回路的控制參數的正常范圍;操作控制參數偏出上述正常范圍時,觸發一個故障信號;在故障信號過程中,將控制回路的運行參數特性化,以獲得故障模版;將上述故障模版和存儲的運行參數系列相比較,與特定部件的失效建立關系;識別至少一個特定部件故障,這些故障具有一系列與上述故障模版相匹配的存儲的運行參數。

檢測電池枝晶狀態的裝置和預測電池使用性能的系統 892     

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本發明公開了檢測電池枝晶狀態的裝置和預測電池使用性能的系統。其中該裝置包括存儲器、處理器和顯示器，存儲器用于存儲已知類型電池的單位面積容量?電流曲線；處理器與存儲器相連，處理器用于識別或讀取待測電池在充放電循環過程中的單位面積容量及電流密度，并基于待測電池的類型和與待測電池匹配的單位面積容量?電流曲線判斷待測電池的枝晶生長狀態；顯示器與處理器相連，顯示器用于顯示待測電池的枝晶生長狀態。該裝置檢測原理簡單，能夠在不拆解電池的前提下快速預判電池在特定使用條件下是否會帶來枝晶的影響以及枝晶的嚴重程度，且預判準確率高，在分析電池失效機理、改善電池使用條件及評價電池性能等方面有廣闊的應用前景。

用于監控、管理和檢測流體輸送管道網絡的結構完整性、定位泄漏點及評估故障程度的系統和方法 1138     

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一種用于監控、管理和檢測傳輸流體的金屬管道的網絡的結構完整性、定位泄漏點及評估任何失效或故障的系統和方法，包括：放置在油或氣管道(2)上的若干檢測裝置(1)，其按給定距離間隔開，并固定地放在所述管道(2)；以及通過通信線路(5)連接到所述檢測裝置(1)的中央數據處理裝置(4)，用于從后者接收檢測數據；其中所述裝置(1)包括能夠測量一個或多個物理量的傳感器；其中所述處理裝置(4)實時地處理從所述檢測裝置(1)接收到的檢測數據。

積層電容器的高壓檢測模塊及高壓檢測設備 1038     

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本實用新型涉及一種積層電容器的高壓檢測模塊及高壓檢測設備，主要通過高壓檢測模塊的第一電極組和第二電極組來夾持積層電容器并對其進行測試，并無其它的任何機構或裝置來協助支撐或固定積層電容器，亦即進行懸空測試，直接以空氣作為絕緣，故將不會殘留金屬余屑，亦不會產生突波。此外，第一電極組和第二電極組于高壓檢測之前，可先進行接觸測試，亦即先檢測第一電極組、第二電極組與積層電容器的電極端面是否完整接觸后再進行高壓測試，以先行確保檢測電極組與積層電容器構成導通，避免因接觸不良所造成的測試失效。

測試和故障檢查基于微處理器的電子系統的存貯器仿真方法和系統 842     

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一種對基于微處理器的電子系統進行測試和故障檢查的方法和系統,它采用了存貯器仿真技術以及其它技術,以提供完全的功能測試和缺陷定位。它在感興趣的總線周期期間,在預先選擇的時間位置上可以產生良好分辨率的同步脈沖,以使完整的故障尋找缺陷隔離容易。其它特點包括用存貯器仿真技術的總線測試,用ROM的片選線來編碼測試結果和在一個核心失效的系統中保持目標微處理器功能的技術。

對等體復活檢測 997     

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提供了一種方法，包括：檢測針對在對等體和網絡之間建立會話的請求，其中請求是從對等體接收的并且包括網絡的用戶的標識符；如果檢測到請求，則檢查是否建立第一會話，其中第一會話是在對等體和網絡之間建立的用戶的會話；如果檢查到建立了第一會話，則確定第一會話是失效還是存活；如果確定第一會話失效，則刷新第一會話；如果確定第一會話失效，則觸發所請求的會話的建立。

檢測系統及檢測方法 861     

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一種檢測系統及檢測方法，該檢測系統可分別于升溫前后施以發光元件順向或逆向電壓并測量其電流，并根據升溫前后的電流差值是否大于電流失效判定值而判斷此元件是否為失效。另外，檢測系統也可在升溫前后利用電流施加裝置施以發光元件順向及逆向電流，并測量升溫前與升溫后的電壓差，并根據升溫前后的電壓差的差值是否大于電壓失效判定值而判斷此元件是否為失效。此外，檢測系統還可分別利用預先檢測步驟及快速檢測步驟，以檢測發光元件是否失效。

用于保護控制功率放大器的電位檢測器 904     

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與只能在供電后操作的常規保護電路不同，通過 檢測音頻功率放大器10在電壓升高期間待用端5的電位 VSTB，電位檢測器8自激活， 并能檢測輸出模塊2的故障狀態，例如，在輸出端3對地的短 路。在電位檢測器8中第二對地的短路檢測塊81檢測電壓升 高時待用端5和輸出端3的電位 VSTB和 VOUT。根據檢測達到第一閾值 電平Vth1的電位 VSTB和輸出端3的對地短路， 第二對地的短路檢測塊81激活斷開信號發生模塊83?；謴湍?塊82檢測電壓升高時待用端5的電位 VSTB根據檢測達到第二閾值電 平Vth2＞ Vth1的電位 VSTB恢復模塊82使斷開信號發 生模塊83失效。由于切斷信號發生模塊83發送切斷信號Sc 作為用于激活的保護開關7A斷開的請求，以保護開關模塊71， 另一方面，終止失效的斷開信號Sc的發送。

非法連接檢測裝置、非法連接檢測系統及非法連接檢測方法 1061     

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提供一種檢測非法充放電裝置的非法連接檢測裝置（100），具備：時刻信息取得部（110），在與第一充放電裝置（20）連接了的情況下，從第一充放電裝置（20）取得表示第一充放電裝置（20）保持的公鑰證書即第一證書的發行日、或第一充放電裝置（20）保持的證書失效列表的發行日的信息，作為時刻信息；有效期限取得部（120），在與第二充放電裝置（30）連接了的情況下，從第二充放電裝置（30）取得表示第二充放電裝置（30）保持的公鑰證書即第二證書的有效期限的有效期限信息；以及非法檢測部（130），通過比較時刻信息與有效期限信息，檢測第二充放電裝置（30）是否是非法充放電裝置。

積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設備及其檢測方法 850     

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本發明涉及一種積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設備及其檢測方法，主要通過高壓檢測模塊的第一電極組和第二電極組來夾持積層電容器并對其進行測試，并無其它的任何機構或裝置來協助支撐或固定積層電容器，亦即進行懸空測試，直接以空氣作為絕緣，故將不會殘留金屬余屑，亦不會產生突波。此外，第一電極組和第二電極組在高壓檢測之前，可先進行接觸測試，亦即先檢測第一電極組、第二電極組與積層電容器的電極端面是否完整接觸后再進行高壓測試，以先行確保檢測電極組與積層電容器構成導通，避免因接觸不良所造成的測試失效。

軋機設備扭振檢測系統及扭振檢測方法 874     

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本發明提供軋機設備扭振檢測系統及扭振檢測方法，以一扭矩感測元件測得傳動軸的一待軋扭矩訊號及一軋延扭矩訊號，以一訊號特征處理單元接收所述待軋扭矩訊號以及所述軋延扭矩訊號，以獲得一相關的指標資料，并以分析結果判斷單元接收所述指標資料并比對一異?；鶞手?，以判斷所述軋機設備于傳動軸處和扭振相關的故障失效狀態。

氣體感測單元、氣體檢測系統及氣體檢測方法 832     

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一種氣體檢測系統，其是包括一氣體檢測單元，其配置有一透明基板、配置于所述透明基板上的一配向膜、及配置于所述配向膜上的一膽固醇液晶膜；一檢測室，其可容置待測氣體及具有至少可放置所述氣體檢測單元的空間；一檢測分析單元，其至少包括一光譜分析器，其用以偵測待測氣體滲入所述膽固醇液晶膜過程中的經時光譜變化；及一資料處理單元，其能夠依據所述經時光譜變化而得到暫態光譜響應、螺距變化、光譜紅移現象及所述膽固醇液晶膜的失效時間中的至少一者；并據以判斷與鑒別所述待測氣體的特性。

計量工具的誤差記錄分析方法和系統 992     

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一種識別用于測量微電子特征所需尺寸的計量工具系統中的失效的方法,其中的每個計量工具運行多個配方以測量微電子特征所需尺寸,每個配方包括測量微電子特征的至少一個尺寸的一組指令。該系統包括存儲有微電子特征尺寸測量中的失效的誤差記錄。該方法包括從上述的失效中確定由計量工具所使用的配方的誤差的歸一化數量、識別誤差記錄中具有最大歸一化誤差數量的一個或多個配方、在由計量工具執行的作業列表中識別所述具有最大歸一化誤差數量的配方以及從所述配方中確定一個或多個配方的誤差的原因。然后改變具有最大歸一化誤差數量的配方以校正其中的誤差,跟蹤具有所述已經改變的一個或多個配方的計量工具作業以確定是否已經校正了誤差原因。

用于系統級故障的根本原因分析和質量監控的方法和系統 785     

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本發明涉及用于系統級故障的根本原因分析和質量監控的方法和系統。系統故障代碼、部件故障代碼、和失效模式可在系統處被接收?？僧a生第一級模型，該第一級模型包括該系統故障代碼與該部件故障代碼之間的第一級因果關系和第一級因果權重?？僧a生第二級模型，該第二級模型包括該部件故障代碼與該失效模式之間的第二級因果關系和第二級因果權重。該第一級模型和該第二級模型可被合并以產生諸如圖形模型的模型。一個或多個因果概率可使用該圖形模型來確定。

經由對應用操作請求的分析來恢復應用功能 1184     

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應用恢復系統被配置為通過確定應用正在異常操作并向該應用提供恢復指令來恢復在客戶端設備上執行的應用。在客戶端設備上執行的應用包括應用的主要部分和應用的恢復部分。應用的恢復部分將對恢復指令的請求發送到網絡系統。網絡系統接收恢復請求，并分析由應用的主要部分生成的操作請求，以標識失效功能及其關聯軟件包?；谒鶚俗R的失效功能及其關聯軟件包來確定恢復指令，并將其發送到客戶端設備?？蛻舳嗽O備應用恢復指令來修改應用，以使應用恢復正常操作。

用于使用路徑追蹤針對裝配線的根本原因分析的方法和系統 1170     

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用于使用路徑追蹤針對包括多個節點的裝配線執行根本原因分析的方法和系統。一種方法包括：接收追蹤數據，所述追蹤數據標識所述多個節點的對由裝配線生產的產品進行處理的子集；以及接收與裝配線相關聯的批準數據，所述批準數據標識由裝配線生產的每一個產品是否通不過批準指標。該方法還包括：基于追蹤數據，枚舉經過裝配線的多個路徑；以及基于批準數據，針對所述多個路徑中的每一個路徑確定失效率。此外，該方法包括：基于所述多個路徑中的每一個路徑的失效率來標識包括在所述多個路徑中的故障路徑；基于故障路徑來標識故障節點；以及執行自動行動來對故障節點進行尋址。

疲勞斷口的機器視覺圖像智能分析方法、裝置及系統 954     

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本發明提供一種疲勞斷口的機器視覺圖像智能分析方法、裝置及系統，該方法包括：獲得金屬斷裂圖像和金屬源圖像；基于深度學習卷積神經網絡對金屬斷裂圖像進行分析，確定金屬斷裂類型；當金屬斷裂類型為疲勞斷裂類型，對金屬斷裂圖像進行區分，獲得裂紋擴展區與裂紋瞬斷區；對裂紋擴展區與裂紋瞬斷區進行統計分析；根據金屬斷裂圖像和金屬源圖像，基于影像變形算法對金屬斷裂的形成過程進行模擬，模擬生成金屬斷裂形成過程圖像。該方案通過一個完整的人工智能圖像分析技術分析金屬斷裂圖像，可以避免人員長期工作導致的正確性下降的風險，降低分析工作時間成本；降低金屬疲勞斷口失效分析的成本投入；可得到高效和可靠的疲勞斷口分析結果。

使用面向組件的故障樹的復雜系統的安全分析 696     

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本發明涉及使用面向組件的故障樹的復雜系統的安全分析。一種用于諸如飛行器的復雜系統的安全分析系統(100)包括系統建模器(104)和模型分析系統(106)。系統建模器(104)經配置以接收構成系統的相應組件的基于故障的組件模型(諸如，來自存儲器的基于故障的組件模型的庫)?；诠收系慕M件模型包括表示為故障樹(500)的傳遞函數，其每個描述在相應組件失效或到組件的外部輸入(404)失效時相應組件的行為。系統建模器(104)也經配置以將基于故障的組件模型裝配成系統的基于故障的系統模型，其中基于故障的系統模型包括表示為基于故障的組件模型的故障樹(500)的組合的傳遞函數。然后，模型分析系統(106)經配置以使用基于故障的系統模型執行安全分析。

借助功能性磁共振層析成像所獲得的腦圖像的分析處理 780     

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本發明說明了一種用于分析處理借助功能性磁共振層析成像所獲得的腦圖像(fMRI圖像)的方法。為此將神經元網絡應用于模擬腦活動。在神經元網絡中模擬腦中猜測的干擾(受干擾的神經元網絡)。將在受干擾的神經元網絡中所求出的活動與在fMRI圖像中所觀察的活動進行比較。在模型中可以人工地模擬腦中任意子結構的失效,并定量它對腦區的復雜協調的影響。與在病人處所測量的fMRI圖像或fMRI活動樣板的比較導至干擾原因的定位,并因而導至成功的診斷。

過程控制系統中的分析通信配置 1101     

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根據本發明，評價配置用于跨PC或SA系統的基于以太網交換的通信網絡從發送器到接收器IED的傳送的每個網絡消息，并且生成并顯示所涉及的每個IED的過程相關的運行情況的相應圖形表示。從作為PC或SA系統的形式配置表示的一部分的邏輯數據流描述，檢索或確定發送器和接收器IED。類似地，從形式配置描述對于每個IED檢索過程的多個運行情況中的單獨一個。生成系統的圖形表示包含形成具有相同運行情況的IED組。對于每個IED組，以連同或以其它方式鏈接到組的標簽或標記的形式來指示或顯示相應運行情況。因此，用戶可容易地通過查看所生成的圖形表示來分析系統的通信配置并且一眼確定在其它IED上和/或在所控制并保護的過程上的IED失效或工程錯誤的結果。

用于定制和ASIC設計的靜態時序分析和動態仿真 994     

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單個驗證工具提供在統一環境下為全定制和ASIC設計二者既進行靜態時序分析又進行動態仿真的能力。在各個實施例中，驗證工具包括下述特征：(a)將靜態時序分析工具和動態仿真工具結合到單個工具；(b)在存在電平敏感鎖存器的情況下，為多相、多頻、多周期電路執行有效的路徑搜索；(c)為了時序特征化，自動識別電路結構，例如，復合門；(d)通過結合功能檢查解決晶體管級的電路結構；(e)執行功能檢查，以過濾掉失效路徑并識別具有同步變化的輸入端的門；(f)在過濾掉錯誤路徑之后，在存在電平敏感鎖存器的條件下，找到最大的工作頻率；(g)通過利用與在spice類仿真器中實施的時域的非線性驅動器耦合的頻域中的RLC部分的導納矩陣和電壓傳輸，解決串擾；(h)使用干擾源和受干擾者的輸入端之間的關聯性，以迭代地矀??定受干擾者的輸出端上的切換時間。

半導體元件的分析方法 720     

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本發明公開了一種半導體元件的分析方法,此方法包括提供半導體元件,且半導體元件上具有異常區域。接著,對異常區域進行聚焦式離子束顯微鏡分析程序,其中聚焦式離子束分析程序的結果顯示異常區域具有缺陷。在聚焦式離子束分析程序之后,對異常區域進行電性檢測步驟,以判斷異常區域中的缺陷是否為元件真正失效缺陷。

通過對掃描診斷結果的統計學分析確定成品率突發異常的原因 1072     

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當今生產過程中的成品率突發異常需要昂貴、冗長且繁重的物理失效分析過程方可確定其根本原因。本申請中公開了通過對收集自生產測試環境的失效數據的分析,高效率地確定生產成品率突發異常根本原因的技術。具體而言,將以新的方式使用統計假設檢驗來分析邏輯診斷數據以及關于設計布局的物理特性的信息,并可靠地確定成品率突發異常的原因。

具有故障注入的失效安全時鐘監視器 928     

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本發明公開了一種用于測試時鐘監視器的系統，所述系統包括故障注入電路、控制電路和評估來自時鐘源的時鐘源信號的時鐘監視器電路。所述故障注入電路將修改或替換來自所述時鐘源的所述時鐘源信號以產生修改的時鐘信號，并且將所述修改的時鐘信號發送到所述時鐘監視器電路。所述時鐘監視器電路將接收輸入時鐘信號，確定所述輸入時鐘信號是否指示有故障的時鐘源，并且如果所述輸入時鐘信號指示有故障的時鐘源則發出時鐘糾正措施。所述控制電路將監視所述時鐘糾正措施，并且基于是否發出所述時鐘糾正措施來確定所述時鐘監視器電路是否正在正確地操作。

在輔助泵失效期間控制車輛的方法 723     

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一種控制車輛的方法包括發送信號給傳動裝置以切換到用以準備發動車輛第一齒輪比,以及在發送信號給傳動裝置以切換到第一齒輪比之后感測傳動裝置的齒輪比。該方法還包括當感測到的傳動裝置齒輪比不等于所需的第一齒輪比時,執行診斷傳動裝置切換控制策略來代替正常傳動裝置切換控制策略,以驗證模式控制閥對應于傳動裝置到第一齒輪比的切換的正確功能性。

使用2D概率性分析來分析3D特征的方法 941     

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一種用于使用二維概率性技術來分析部件(60)的三維應力集中特征例如鉆孔(62)的方法。確定應力集中特征周圍的周向相關的應力集中分布，然后使用應力集中分布的2D概率性失效分析來計算部件的失效概率。概率性失效分析可以包括蒙特卡羅θ積分方法。

在線移送的分析樣品的分析系統 978     

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本發明涉及一種分析系統，可在線移送分析樣品，同時迅速得到分析結果。此外，還提供一種分析系統，對于從兩個以上的現場所供給的分析樣品，形成在分析樣品的移送路徑上不采用泵或閥等具有失效容體部分的構成，同時借由一臺分析裝置來分析。本發明涉及一種分析系統，具備兩個以上的樣品分別移送裝置，并且樣品分別移送裝置的各樣品移送路徑，與由應用感應耦合等離子體或微波等離子體的分析裝置所構成的共通分析裝置的等離子體炬連接；各樣品移送路徑中，具有主流路、補充氣體供給流路、以及排放流路；等離子體炬在大致中央處具有導入霧化的分析樣品的樣品導入管；排放流路的內徑與等離子體炬的樣品導入管的入口部分的內徑為同等以上。

集成電路中降低存儲器失效之方法 733     

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存儲器可靠性由使用冗余修復可由ECC偵測的錯誤而被改良。在一具體實施例中,冗余修復無法由ECC修正的錯誤。冗余可利用電子熔絲的使用,在包含該存儲器的IC被封裝后激活修復。冗余亦可在該IC的封裝前被執行。