當今生產過程中的成品率突發異常需要昂貴、冗長且繁重的物理失效分析過程方可確定其根本原因。本申請中公開了通過對收集自生產測試環境的失效數據的分析,高效率地確定生產成品率突發異常根本原因的技術。具體而言,將以新的方式使用統計假設檢驗來分析邏輯診斷數據以及關于設計布局的物理特性的信息,并可靠地確定成品率突發異常的原因。
聲明:
“通過對掃描診斷結果的統計學分析確定成品率突發異常的原因” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)