一種對基于微處理器的電子系統進行測試和故障檢查的方法和系統,它采用了存貯器仿真技術以及其它技術,以提供完全的功能測試和缺陷定位。它在感興趣的總線周期期間,在預先選擇的時間位置上可以產生良好分辨率的同步脈沖,以使完整的故障尋找缺陷隔離容易。其它特點包括用存貯器仿真技術的總線測試,用ROM的片選線來編碼測試結果和在一個核心失效的系統中保持目標微處理器功能的技術。
聲明:
“測試和故障檢查基于微處理器的電子系統的存貯器仿真方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)