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本發明公開了一種穩態條件下的高溫結構內部溫度及壁厚同時測量方法，解決了穩態條件下的高溫結構內部溫度及壁厚無法同時測量的問題，該方法基于超聲檢測信號，將結構厚度和內部溫度的同時測量轉化為熱傳導問題熱邊界條件和結構厚度的多參數識別問題。其中，采用增大初始時間和時間步，使得瞬態求解得到的結構內部非均勻溫度場與穩態結果保持一致，將穩態傳熱條件下的一個有效測量數據轉化為瞬態條件下的多個有效測量數據，以有效解決多參數識別中輸入信息不足帶來的矩陣奇異問題。該方法通過求解熱傳導反問題，可快速、無損、非接觸地測量穩態傳熱條件下相關的結構內部溫度和厚度。
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本發明公開了一種針對中錳鋼馬氏體相變的磁性測量裝置，包括磁屏蔽間和龍門式測量架，還包括固定在龍門式測量架內的探頭夾，設置在該探頭夾下方的磁強計探頭，與該磁強計探頭連接、并位于磁屏蔽間外的磁通門磁強計數字顯示器，位于磁強計探頭下方、且用于放置中錳鋼樣品并定位樣品坐標的無磁滑臺，與該無磁花臺連接、用于使無磁滑臺做往復直線運動的絲桿，以及設置在龍門式測量架上、用于固定絲桿兩端的固定底座；所述磁屏蔽間內的直流剩磁為1mGs。本發明屬于無損檢測，不僅可以定性判斷中錳鋼馬氏體的多少，磁場幅值與樣品沖擊韌性之間存在正相關關系，而且檢測方式靈活、對人體健康無害。
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本發明公開了一種用于物質的太赫茲精細譜探測儀，采用室溫相干太赫茲源和檢測方法，包括發射支路和接收支路，發射支路和接收支路均設計有太赫茲倍頻鏈陣列，通過太赫茲倍頻鏈陣列來產生連續太赫茲波；太赫茲倍頻鏈陣列根據實際測量需求設計有具體的分段數，利用這種太赫茲倍頻鏈陣列可以實現0.1?1.5?THz范圍全覆蓋；因此本發明，可以測量物質的太赫茲精細譜，譜分辨率可達百KHz，比THz?TDS系統提升三個量級；本發明采用全固態方式實現，易于集成，可靠性高；進一步的，采用自由空間法測量物質的透射譜，具有校準方便、對待測樣品無損傷的優點。
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本發明公開了一種材料殘余應力的光纖測量裝置及監測方法，該裝置包括橡膠底座、橡膠底座凹槽、第一層光纖光柵傳感器串、橡膠、第二層光纖光柵傳感器串、石英護管、光纖光柵解調裝置，本發明通過設計一種材料殘余應力的光纖測量裝置，研究高精度的材料殘余應力無損測試方法，結構簡單，精度高等特點；本發明提供了一種材料殘余應力的監測方法，對材料外表面整體應釋放測試是采用加載靜態載荷或動態載荷的方法；對于材料內部應力釋放測試研究，基于超聲波和接觸式光纖光柵傳感陣列，根據不同傳感器對超聲信號的響應時間，定位材料內部應力不均勻處，結合有限元軟件，分析材料內部殘余應力的分布。
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本發明公開了一種風力機葉片表面壓力測量罩及其測量系統，屬于風力壓力測量技術領域。風力機葉片表面橫向形成其表面高于葉片表面的測量罩，所述的測量罩外周形成可容納傳感器內凹的凹點，凹點內設置傳感器本發明通過在葉片表面形成其表面高度高于葉片的測量罩，測量罩無損于葉片本身，且能得到滿意的精度，協調了傳統風力機葉片表面壓力測量中代價與精度之間的矛盾。通過使用玻璃鋼或碳纖維自制測量罩，厚度6～10mm，與葉片本身的固定可采用膠結并輔以螺桿加固，測量罩內置精度較高的差壓式壓力傳感器，從而提高了測量罩的測量精度。
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本發明公開了一種以酸化處理法測定微生物培養體系中鈷含量的方法，其特征是：取0.5～3.5mL的待測樣品置于開口容器中，按1：1的體積比加入質量百分比濃度為65%～68%的濃硝酸，振蕩混勻；所述待測樣品是微生物培養體系中含有鈷離子的待測溶液；將混合液加熱至沸騰，振蕩驅酸，蒸發至近干，再加入純水溶解，無損失的轉移到10mL容量瓶中，最后加入水定容至刻度線；采用分光光度法或/和原子吸收光譜法測定容量瓶中水溶液中的鈷含量。本發明通過對待測樣品酸化處理，避免了微生物培養基成分對鈷測定干擾大的缺點，同時還不會引入其他雜質，具有操作簡便、快速、準確及靈敏等優點，能成功應用于微生物培養體系中鈷含量的測定。
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本發明用于渦輪增壓器無損轉速測量。所述渦輪增壓器轉速測量儀包括依次電性連接的磁電式傳感器、放大模塊以及DSP信號處理模塊,其中,磁電式傳感器固定于增壓器壓氣機外殼上,且其軸向位置臨近被磁化的螺母,所述DSP信號處理模塊包括TMS320F2812芯片、AD模塊、DA模塊以及LAN接口、RS232接口,其中,所述AD模塊與放大模塊相連,且該DSP信號處理模塊連接有鍵盤和液晶屏。本發明渦輪增壓器轉速測量儀采用快速傅里葉變換,將轉速信號從時域轉化到頻域,采用識別算法在頻域提取轉速特征頻率,獲得轉速。因此無需對增壓器結構的破壞,成本較低。而且當轉速在20000到120000內的測量滿量程誤差小于±0.2‰(滿量程300000rpm),能較好的滿足實際測速要求,且具有較高的低轉速測量精度。
本發明公開了一種基于磁性標記的順磁箱內物體位移測量裝置，包括磁屏蔽間、龍門式測量架、磁性標記、第一測量系統和第二測量系統，其中：龍門式測量架設置在磁屏蔽間內，其內放置有裝載了被測物體的順磁箱；磁性標記固定在被測物體離順磁箱內表面最近的部位，并沿著被測物體可能發生位移的方向磁化；第一測量系統用于記錄被測物體放置前后以及被測物體發生位移后的磁場變化；第二測量系統用于第一測量系統在記錄磁場變化的同時進行相應的一維坐標標定。本發明可對順磁金屬或非金屬箱內物體的位移進行無損檢測，擁有著較高的檢測深度和較低的誤差，并且對材料無損，對人體健康毫無任何危害，因此，其適于推廣應用。
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本實用新型提供了一種基于介電特性的礦物復合板材質量快速檢測裝置，包括，控制平臺，用于擺放待測礦物復合板材；線圈傳感器，用于對待測礦物復合板材進行電磁波輻射，并回收待測礦物復合板材的屬性信號；信號轉換器，與線圈傳感器連接；信號激勵器，與信號轉換器連接；信號調節控制模塊，與線圈傳感器連接；信號采集卡，與信號調節控制模塊連接；處理顯示平臺，分別與信號采集卡、信號激勵器連接,處理顯示平臺用于對接收信號進行成圖顯示，獲得待測礦物復合板材的質量圖形信息，本實用新型提供的裝置對板材進行快速無損檢測，根據數據分析劃定質量等級，有利于工廠實現生產線智能控制；在技術成本方面降低支出，提高了社會經濟效益。
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本發明公開了一種核島鋼襯里與貫穿件法蘭對接焊縫的射線檢測裝置，包括木板，木板上位于靠近襯里筒體的一端為插入端，插入端的下表面上連有限位裝置，限位裝置的端部凸出于貫穿件的外壁，木板上位于貫穿件外部的另一端為安裝端，安裝端上安裝有射線機，木板上設有固緊調節裝置，固緊調節裝置位于貫穿件遠離襯里筒體的一端內，固緊調節裝置能夠對木板進行固定。本發明，采用此裝置后可以根據現場進行臨時安裝射線檢測裝置，在任意位置進行垂直透照，無需搭設新的腳手架；此裝置操作簡便，可拆卸重復使用，使用材料簡單，造價成本低；無損檢測人員在對焦射線機時操作性強，比先前用不斷的搭設腳手架要節省費用，縮短了工期。
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本實用新型屬于無損檢測技術領域，公開了一種用于線圈法磁粉檢測的試件，包括金屬管件，金屬管件的外表面為檢測面，金屬管件的內表面環向設有至少兩條寬度不等的檢測槽，檢測槽的底部到檢測面的距離沿著金屬管件的圓周方向連續變化。本實用新型所提供的試件能夠用于線圈法磁粉檢測近表面環向缺陷可檢深度，能夠用于優化線圈法磁粉檢測工藝參數，提高鐵磁性材料縱長工件近表面環向缺陷檢測能力。
本發明公開了一種基于白光共焦傳感器的球殼類零件表面粗糙度檢測方法及系統，所述殼類零件表面粗糙度檢測方法至少包括如下步驟：S1：待測工件裝夾；S2：待測工件測量位置的確定；S3：調整工件的位姿；S4：調節測量傳感器與被測位置點間的距離；S5：測量參數設置；S6：采集被測面形貌數據；S7：計算被測位置的粗糙度參數并輸出結果；S8：測量下一個位置點，重復步驟S3至S7。本發明方法基于白光共焦傳感器針對精密位移的測量時具有高精度、高穩定性、高分辨率、非接觸測量、測量范圍大等特點，實現球殼類工件任一型面表面粗糙度準確、高效、無損的測量。
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本發明提供了一種檢測或比較高分子聚合材料力學強度的方法。所述檢測方法包括：測定多個樣品中的每個樣品的力學強度和熒光吸收光譜的最大值，形成熒光吸收光譜的最大值與力學強度的曲線關系或函數關系；測量待測目標材料的熒光吸收光譜的最大值，利用所述曲線關系或函數關系對應得出該待測目標材料的力學強度。其中，所述多個樣品和待測目標材料均由高分子聚合物構成，所述高分子聚合物以二磺酸二氟二苯甲酮、羥基吲哚和二氟二苯甲酮為單體，且所述二磺酸二氟二苯甲酮的磺酸基上存在金屬陽離子。本發明能夠通過熒光無損探測的方式實現對高分子聚合材料力學性能的檢測。
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本發明公開了一種用于光學元件表面熒光特性顆粒檢測的裝置及方法，包括：紫外熒光成像系統，其連接有控制電腦；運動機構，紫外熒光成像系統設置在運動機構上；將紫外熒光成像系統固定于運動機構上，將光學元件放置于底座內；通過運動機構的支架調整紫外熒光成像系統與光學元件的距離，使其成像最清晰；控制電腦控制紫外熒光成像系統，使用CCD相機拍照并分析檢測結果；通過運動機構的縱向導軌、橫向導軌和豎直導軌移動紫外熒光成像系統，并重復進行拍照分析，完成對光學元件的抽樣檢測。本發明可根據成像鏡頭的工作距離，通過運動機構調節紫外熒光成像系統與光學元件之間的距離。本發明檢測方法為無損檢測，與光學元件無接觸，無二次污染產生。
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本實用新型屬于無損檢測技術領域，公開了一種用于軸向通電法磁粉檢測的試件，包括金屬管件，金屬管件的外表面為檢測面，金屬管件的內表面沿其軸向設有至少兩條寬度不等的檢測槽，檢測槽與金屬管件等長，檢測槽的底部到檢測面的距離沿著金屬管件的軸向連續變化。本實用新型所提供的試件能夠用于優化軸向通電法磁粉檢測工藝參數，提高鐵磁性實心和空心工件近表面縱向缺陷檢測能力。
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本實用新型公開了一種中子檢測裝置，該檢測裝置包括中子發生器、α粒子位置靈敏探測器、中子源輻射屏蔽體、中子接收腔、γ射線探測器、系統控制及數據獲取與處理系統。本實用新型的可拆卸包裹爆炸物中子檢測裝置通過將γ探測器放置于中子源輻射屏蔽體與中子接收腔中間的中子出束孔道旁邊、緊靠被檢測物，大大提高了探測器效率；本裝置采用的可拆卸屏蔽體便于檢測裝置可以移動、也便于在有人的地方使用，從而方便地實現了對隨機場所可疑行李、包裹的無損定性檢測，具有檢測效率高，此外該裝置還可對隱藏的毒品進行檢測。
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本發明公開了一種薄膜厚度微區成像的檢測裝置及方法，屬于薄膜厚度無損檢測的技術領域，所述檢測裝置包括：計算機，分別與計算機通信連接的光源發生器和面陣檢測器；所述光源發生器用于產生波長可調的單色光；照明及成像光路，所述照明及成像光路用于將單色光垂直或接近垂直方向入射到樣品表面的待測區域，并將反射光收集并成像到面陣檢測器上；檢測過程包括：檢測過程包括：通過計算機控制光源發生器進行波長掃描和面陣檢測器進行逐個波長反射圖像的采集，并獲得不同波長的反射光圖像，通過數據處理方法將反射光圖像轉變為薄膜厚度分布圖像，以達到通過獲得成像范圍內大量點的薄膜厚度，能應用于分析厚度不均勻薄膜，預期在材料腐蝕、光學鍍膜、半導體工業等領域具有良好應用前景的目的。
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本發明公開了一種基于電容層析成像的高聚物粘結炸藥密度分布檢測方法，利用平行板電容法測得平行板間的電容值，計算得到不同密度下PBX材料的相對介電常數，建立PBX材料密度值與介電常數模型；搭建電容層析成像系統，依次測定待測PBX試件陣列電極對之間的電容值，根據測定的所有電極對之間的電容值以及靈敏度矩陣對PBX材料相對介電常數分布進行三維重構；根據PBX材料相對介電常數?PBX材料密度模型得到PBX試件密度分布，實現PBX試件密度分布的檢測；本發明方法能夠對PBX試件的密度分布進行定量檢測，具有無損、高效、檢測范圍大/便攜的優點，可廣泛應用于PBX試件密度分布測定與密度均勻性的檢測中。
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本發明公開了一種材料內部缺陷的激光超聲透射時延檢測方法。該方法包括如下步驟：首先，通過激光器激發的脈沖激光作用在樣品表面激發出超聲體波；其次，在樣品的另一側表面，利用探測激光聚焦在激發激光的對心位置處來探測超聲體波信號；再次，通過二維移動樣品實現掃查，選取樣品無缺陷位置處信噪比較高的超聲體波作為參考波，對所有掃查點處探測得到的超聲波信號進行互相關運算；最后，通過計算超聲波信號波形相關系數和相關系數最大處的波形時延值來對內部缺陷進行檢測。本發明的激光超聲透射時延檢測方法對于內部缺陷尤其是亞毫米微缺陷的檢測具有高靈敏度和高穩定性，能夠實現內部缺陷的準確定位和定量，適用于各類材料的無損檢測。
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本實用新型公開了一種瓦片狀零件雙面同步視覺快速檢測設備，屬于無損檢測技術領域中的視覺成像檢測設備，其目的在于提供一種瓦片狀零件的雙面同步視覺快速檢測設備，無需通過翻面裝置對零件進行翻面處理即可直接對瓦片狀零件的凹面、凸面進行快速視覺檢測。其技術方案為：圓盤上設置有機械手組件和上料、卸料組件；底板上劃分有上料區域、凹面檢測區域和凸面檢測區域；上料區域處設置有上料組件和抓料氣缸組件，凹面檢測區域處設置有凹面檢測組件，凹面檢測組件位于圓盤的下方，凸面檢測區域處設置有凸面檢測臺組件、卸料氣缸組件和凸面檢測組件，凸面檢測組件位于凸面檢測臺組件上方。本實用新型適用于檢測瓦片狀零件的雙面同步視覺檢測設備。
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本申請涉及一種檢測微球與充氣管組件導通性的裝置，該裝置包括X射線能譜測量裝置、微球與充氣管組件充放氣裝置、數據采集與控制卡和計算機；本實用新型的一種檢測微球與充氣管組件導通性的裝置是將診斷氣體注入至微球與充氣管組件內，通過X射線能譜測量裝置檢測微球內診斷氣體的X射線特征譜線，通過X射線特征譜線判斷微球與充氣管組件的導通性。該裝置適用于微球與微細導氣管組件的導通性的檢測，對檢測樣品無損傷、無污染，檢測結果準確、可靠。
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本發明公開了一種集成式激光誘導聲表面波缺陷檢測裝置，屬于無損檢測技術領域，包括：探測頭、光纖束及探測器；所述探測頭一側端面的中心設有一個泵浦激光發射口，沿泵浦激光發射口周向均勻分布有探測激光口；探測頭的泵浦激光發射口通過光纖束中與之對應的光纖與激光光源連接，探測頭的每個探測激光口通過光纖束中與之對應的光纖分別與對應的激光光源及對應的探測器連接；所述泵浦激光發射口用于發射泵浦激光；所述探測激光口用于發射探測激光，并接收反射回來的探測激光傳輸給對應的探測器；該裝置能夠利用激光產生聲表面波并采用激光探測的方式對被檢測物體進行表面缺陷檢測,缺陷檢測效率高且操作方便。
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本實用新型屬于無損檢測技術領域，公開了一種用于中心導體法磁粉檢測的試件，包括金屬管件，金屬管件的內表面為檢測面，金屬管件的外表面沿其軸向設有至少兩條寬度不等的檢測槽，檢測槽與金屬管件等長，檢測槽的底部到檢測面的距離沿著金屬管件的軸向連續變化。本實用新型所提供的試件能夠用于中心導體法磁粉檢測內壁近表面縱向缺陷的可檢深度，能夠用于優化中心導體法磁粉檢測工藝參數，提高鐵磁性材料管子等空心件的內壁近表面縱向缺陷檢測能力。
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本發明提供了一種缺陷檢測設備及方法，通過激光發射裝置發出探測光，并使探測光輻照到待測樣品上，形成信號光，然后通過分光裝置將信號光中包含的散射光和熒光進行分離，使得熒光入射到第一探測裝置成像，散射光入射到第二探測裝置成像，進而通過控制裝置處理第一探測裝置采集到的熒光圖像信息以及第二探測裝置采集到的散射光圖像信息，得到待測樣品的表面缺陷信息以及亞表面缺陷信息。通過本發明提供的技術方案能夠實現對待測樣品的亞表面缺陷的無損檢測，而且能夠同時實現對待測樣品的表面缺陷的無損檢測，有利于節約缺陷檢測的測試時間，提高測試效率。
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本實用新型提供了一種缺陷檢測設備，通過激光發射裝置發出探測光，并使探測光輻照到待測樣品上，形成信號光，然后通過分光裝置將信號光中包含的散射光和熒光進行分離，使得熒光入射到第一探測裝置成像，散射光入射到第二探測裝置成像，得到熒光圖像信息以及散射光圖像信息，以便進一步分析采集到的熒光圖像信息和散射光圖像信息，得到待測樣品的表面缺陷信息以及亞表面缺陷信息。通過本實用新型提供的缺陷檢測設備有利于實現對待測樣品的亞表面缺陷的無損檢測，而且能夠同時實現對待測樣品的表面缺陷的無損檢測，有利于節約缺陷檢測的測試時間，提高測試效率。
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本實用新型公開了一種金屬零件缺陷檢測系統，包括無損探測儀和測試架，所述無損探測儀通過導線連接有探頭，所述測試架包括底板，所述底板的上端面對稱設置有2個固定板，2個固定板之間設置有橫板，所述橫板的內側設置有滑軌，所述滑軌內設置有操作桿，所述操作桿的端部設置有探頭固定件，所述固定板上設置有與操作桿垂直連接的伸縮機構，所述底板上設置有金屬零件固定機構。本實用新型所述缺陷檢測系統實現探頭在金屬零件表面自動均勻滑動，無需手動滑動，解決現有了無損檢測儀操作麻煩、影響到滑動均勻性的問題。
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本發明提供了一種密封性檢測裝置。本發明由檢測機構和控制系統兩部分組成。本發明采用?“壓降法”檢測原理，將被檢測鐵匣置于可開啟的密封箱內，然后關閉密封箱，對夾層空間抽真空，與鐵匣內腔形成壓力差，通過測量規定時間內夾層空間壓力變化值來衡量鐵匣密封性。通過增設與夾層空間近似體積的對比罐，將檢測過程分為兩個步驟，第一步讓對比罐與夾層空間形成壓力平衡，用平衡后的壓力值來判斷是否存在大流量泄漏情況，第二步再用“壓降法”檢測小漏情況。本發明提供的密封性檢測裝置用在槍彈自動包裝生產線上，可實現鐵匣密封性在線無損檢測，通過更換模具可實現國標鐵匣和美標鐵匣的密封性檢測。
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本發明公開了一種金屬零件缺陷檢測系統及修復方法，所述金屬零件缺陷檢測系統包括無損探測儀和測試架，所述無損探測儀通過導線連接有探頭，所述測試架包括底板，所述底板的上端面對稱設置有2個固定板，2個固定板之間設置有橫板，所述橫板的內側設置有滑軌，所述滑軌內設置有操作桿，所述操作桿的端部設置有探頭固定件，所述固定板上設置有與操作桿垂直連接的伸縮機構，所述底板上設置有金屬零件固定機構。本發明所述缺陷檢測系統實現探頭在金屬零件表面自動均勻滑動，無需手動滑動，解決現有了無損檢測儀操作麻煩、影響到滑動均勻性的問題。
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本發明公開了液壓加載試驗機的材料水平斷裂檢測方法，包括材料水平斷裂檢測方法與材料斷裂檢測算法。本發明還公開了一種液壓加載試驗機的材料水平斷裂安全處理控制方法，包括材料斷裂安全處理措施與安全處理控制方法。通過本發明，解決了材料試驗機試驗中材料斷裂后對材料進行二次加載造成損傷、以及材料二次加載過程造成爆炸事故、過程不可控等問題，滿足實驗室或者工業科研生產對材料負荷強度測量、特別是危險材料的負荷強度安全、可控、材料無損傷測量需求。本發明實現了含能材料負荷強度測量功能，滿足了含能材料負荷強度測量過程中安全、可控、對材料無二次損傷要求。
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本發明屬于無損檢測技術領域，公開了一種用于線圈法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法。檢測方法，包括以下步驟：將試件固定在磁探檢測臺兩個夾頭之間，使試件位于線圈的中心位置并保持水平；對線圈通電形成磁場并對試件施加磁粉或磁懸液獲得磁痕；記錄磁化電流大小和磁痕的長度；依據公式計算出磁粉檢測深度。本發明所提供的試件能夠用于線圈法磁粉檢測近表面環向缺陷可檢深度，該試件的檢測方法，能夠用于檢測鐵磁性材料縱長工件近表面環向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗證，優化線圈法磁粉檢測工藝參數，提高該類型工件近表面環向缺陷檢測能力。
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