本發明公開了一種結合工藝及可靠性框圖的電子類單機貯存可靠性評估方法,所述方法通過EDA仿真模型及多物理場耦合模型對電子類單機進行描述,建立電子類單機功能仿真模型,結合廠家調研結果,利用靈敏度分析方法確定影響電子類單機輸出特性參數的關鍵底層單元;然后,對關鍵底層單元進行失效模式及失效機理分析,結合底層單元工藝數據及加速貯存試驗中實測的貯存退化數據,建立具有分布特性的底層單元貯存退化模型;最后,通過可靠性框圖對電子類單機結構特征進行描述,并將各底層單元貯存失效率注入其中,完成電子類單機貯存可靠性評估。本發明解決了因進行加速貯存試驗時電子類單機樣本量過小,而導致的貯存可靠性評估結果準確度較低的問題。
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