本發明涉及一種LED光源壽命加速測試系統及方法,其中該系統包括樣品分組裝置、第一結溫測試裝置、加溫裝置、第二結溫測試裝置、壽命測算裝置和加溫測試裝置。本發明在保持驅動電源失效機理不變的條件下,通過提高其工作溫度應力的方法來加速失效發現其潛在的缺陷,并根據阿氏加速理論中的加速壽命試驗模型及引入置信度推斷出其在正常溫度應力水平下壽命,比傳統的設計和試驗以快得多的速度使產品達到在設計和工藝上成熟,從而縮短研制過程總時間,得以早日投放市場,搶占市場份額,產品設計和工藝成熟快,產品研制和生產成本更低。
聲明:
“LED光源加速壽命測試系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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