本發明公開了一種復用現有邏輯管腳進入測試模式的方法,芯片邏輯在上電或外部管腳作用下產生內部延遲復位信號,在延遲窗口內,監測邏輯處于工作狀態,其他邏輯處于復位狀態,當監測邏輯監測到串行碼流與預留的測試碼流KEY相匹配,則測試模式被鎖定,延遲復位撤離后繼續保持測試模式,當監測邏輯監測到串行碼流與預留的測試碼流KEY不匹配,則監測邏輯失效,延遲復位撤離后全部邏輯進入正常邏輯模式。本發明的特點是:復用現有邏輯管腳,通過DEBUG管腳進入測試模式,減少芯片管腳封裝,提高管腳利用率,沒有使用敏感信號復位管腳作為時鐘和數據輸入,有效避免影響內部正常邏輯,而且通過檢測時間窗口,大幅度降低誤觸發進入測試模式的概率,保證可靠性。
聲明:
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