本實用新型提供了一種繼承性大變形光纖測試結構,包括:多根測試光纖,每根測試光纖外接測試設備;設置兩個固結區將測試光纖直接固定在檢測對象上,或者先固定在測試光線載體上,測試光線載體再固定在檢測對象上;所有測試光纖在檢測區域內長度不同Li≤Li?1(1+δ),δ作為光纖有效測試應變量。測試原理為:第i根測試光纖Gi即將失效時,第i+1根測試光纖Gi+1進入有效測試狀態,大變形由繼承方式獲得。本實用新型結構簡單,穩定性好,檢測精度高,結構成本及其實施成本低,實施過程簡單,有極大的應用前景。
聲明:
“繼承性大變形光纖測試結構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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