本發明適用于測量技術領域,提供了一種電子設備的老化檢測方法、系統、介質和設備,其中,電子設備的老化檢測方法,包括如下步驟:將標準件與電子設備連接,所述電子設備上還設置有多個元器件,所述標準件用于對所述電子設備進行老化檢測;根據所述標準件的失效率曲線,獲取當前時刻所述標準件對應的理論值和實際測量值;根據當前時刻所述標準件的理論值和實際測量值之間的標準差值,來判斷所述電子設備是否老化。通過本申請的方法,不需要獲取電子設備中的各元器件大量的參數來判斷電子設備是否老化,僅僅需要一個標準件即可判斷,很大程度上簡化了電子設備的檢修流程,而且不需要改變電子設備的原有電路。
聲明:
“電子設備的老化檢測方法、系統、介質和設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)