本發明公開了一種基于宏觀聲學理論的納米聲學效應分析方法,包括以下步驟:一、不同尺度延遲線型聲表面波器件的獲??;二、不同尺度延遲線型聲表面波器件的參數測試;三、不同尺度延遲線型聲表面波器件宏觀聲學理論計算值的獲取及參數誤差獲??;四、宏觀聲學理論失效判斷以及失效閾值確定。本發明步驟簡單,設計合理且實現方便,通過對不同尺度延遲線型聲表面波器件的參數測量值與不同尺度延遲線型聲表面波器件的參數的宏觀聲學理論計算值分析,獲取宏觀聲學理論失效時延遲線型聲表面波器件對應的失效波長閾值,可有力推動聲學器件納米聲學效應的研究。
聲明:
“基于宏觀聲學理論的納米聲學效應分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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