本發明提供一種基于NBTI效應PMOS管參數退化的失效預警裝置,包括依次連接的負偏壓電荷泵電路、參數監測電路、信號處理電路以及信號鎖存輸出電路,負荷電荷泵電路輸出-VDD到0V連續可調的負偏壓至參數監測電路,參數監測電路將-VDD到0V連續可調的負偏壓施加至待失效預警PMOS管,施加VDD電壓至標準PMOS管,待失效預警PMOS管加速退化,輸出兩者閾值電壓至信號處理電路,信號處理電路對兩個閾值電壓進行處理生成模擬信號輸出至信號鎖存輸出電路,信號鎖存輸出電路將模擬信號與第一參考電壓比較,生成預警信號,實現對失效預警PMOS管的參數退化失效預警,確保高性能集成電路的穩定性。
聲明:
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