本申請提供了一種晶圓測試數據的分析方法、平臺、電子設備及存儲介質,分析方法包括:獲取多個批次的晶圓測試數據;根據目錄分類信息區分晶圓測試數據,記錄區分后的晶圓測試數據存儲路徑,并進行目錄分類歸檔;根據目標目錄分類信息,從目錄中索引相應晶圓測試數據的數據路徑,提取晶圓測試數據,并按照目標參數將晶圓測試數據合并成目標數據集;對目標數據集,進行視圖構建及視圖分析,和/或進行數據統計分析;本申請實現了晶圓測試數據的快速提取、分類、整合、分析,可提供有效的信息進行失效分析,改善設計和制造良率;利用目錄索引晶圓測試數據文件路徑的方式作為數據整合的基礎,可有效提高數據整合、分析效率,并減少計算、運行負荷。
聲明:
“晶圓測試數據的分析方法、平臺、電子設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)