本實用新型涉及微波器件測試工具技術領域,具體涉及微波器件測試用輔助保護裝置。包括固定底板、下夾持座和上夾持機構,所述下夾持座一體式設置于固定底板頂部,在下夾持座的頂部設有第一器件凹槽和緊固盲孔,第一器件凹槽的兩側設有端子槽,在上夾持機構的底部設有第二器件凹槽,第二器件凹槽的兩側設有壓塊,在上夾持機構內設有豎直貫穿上夾持機構的緊固通孔,在上夾持機構的底面除去第二器件凹槽、壓塊和緊固通孔以外的部位設有第一緩沖墊層,在第二器件凹槽的槽底設有第二緩沖墊層,上夾持機構蓋合在下夾持座上。本實用新型可以使微波器件在測試過程中與微帶線始終保持壓緊狀態,保證微波器件測試的穩定性、準確性和無損性。
聲明:
“微波器件測試用輔助保護裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)