本發明公開了一種基于調制弱值放大技術的相位分布測量裝置及方法,該相位分布測量裝置設置有系統前選擇態單元、第一相位補償單元、系統后選擇態單元,本發明主要基于標準量子弱值放大技術,以光偏振作為量子系統自由度,采用相位補償策略,通過設置合適的第一相位補償單元和系統后選擇態單元,可對一個波長以內的任意相位實現高精度測量,是一種新型的、無損的直接光學傳感測量技術,適用于生物醫學、分析化學、材料學等多個技術領域的相位高精度測量及成像分析,具有重要應用價值。
聲明:
“基于調制弱值放大技術的相位分布測量裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)