本發明提供一種基于微納熒光顆粒的薄膜熱導率測量系統,所述測量系統至少包括:樣品結構模塊、成像光路模塊以及激發射和光譜測量模塊;所述樣品結構模塊至少包括襯底、待測薄膜、吸收熱源和微納熒光顆粒;所述待測薄膜置于所述襯底上,所述吸收熱源和微納熒光顆粒放置在所述待測薄膜表面;或者所述微納熒光顆粒直接放置在所述襯底上;所述激光發射和光譜測量模塊安裝在所述樣品結構模塊的上方,用于照射待測薄膜以使所述吸收熱源吸收激光能量產生熱量,同時使微納熒光顆粒受到激光激發產生熒光,并對光譜進行測量。利用本發明的測量系統可以實現對微納米薄膜熱導率的無損、便捷、可靠測量。
聲明:
“基于微納熒光顆粒的薄膜熱導率測量系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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