一種基于雙目機器視覺的球柵陣列半導體器件品質檢測系統,由光學成像和圖像采集兩部分組成,被測球柵陣列半導體器件放置在載物臺上,兩個CCD攝像機分別設置在光學顯微鏡的正上方和被測器件側面,每一個CCD攝像機配置一套光源,兩個CCD攝像機多角度采集的半導體器件圖像信息,通過高速圖像采集卡傳送到計算機,經處理后得到器件檢測需要的各項數據,進行器件的品質的評定。本發明采用軟件信號觸發控制圖像采集、雙CCD攝像機和彩色圖像處理技術,實現對球柵陣列半導體器件品質的高速、高分辨率無損傷檢測,滿足在線實時檢測的需要。
聲明:
“基于雙目機器視覺的球柵陣列半導體器件品質檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)