本發明是一種基于高光譜建立稻谷貯藏中主要腐敗通用無損的真菌生長擬合曲線的方法,屬于農產品質量安全快速檢測和監測的無損技術。通過高光譜檢測系統,分別獲取真菌不同生長時間點的高光譜圖像,提取400-1000nm全波段的光譜平均值,波峰709nm處的光譜值和全波段光譜值的主成分得分三種光譜特征,分別構建了五種稻谷貯藏中常見真菌的Fourier函數通用擬合模型,相關系數在0.9432-0.9996,有較好擬合效果。本發明為稻谷儲藏真菌病害的準確檢測和監測提供幫助。
聲明:
“通用無損的真菌的生長擬合方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)