本發明的目的在于提供一種紅外無損檢測的缺陷幾何特征提取方法,屬于紅外無損檢測技術領域。該方法考慮了熱擴散對圖像分割造成的影響,基于雙閾值將待檢測的紅外圖像分割成黑、灰、白三種情況,分別對應無缺陷、熱擴散影響和有缺陷三部分,然后再利用形態學邊緣檢測獲取缺陷幾何特征,實現在考慮熱擴散影響下的缺陷幾何特征的準確提取,具有準確率高的優勢。
聲明:
“紅外無損檢測的缺陷幾何特征提取方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)