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剖面海洋測量儀器的去溫度影響的方法

1126   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 07:25:21
本發明涉及海洋檢測技術領域,具體涉及一種剖面海洋測量儀器的去溫度影響的方法,包括以下步驟:1)對檢測模塊的LED光源進行溫度校正;2)將步驟1)校正后的數據對化學反應率進行校正。本發明針對剖面海洋儀器的溫度影響的系統級校正;校正時單獨處理每一個相互獨立的影響因素;涵蓋范圍廣,應用適應性好。
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