本發明提供了一種提高孔結構參數測定準確性的方法,該方法適用于納米多孔材料孔徑及比表面積參數測定領域。該方法具體包括以下步驟:使用比表面積及孔徑分析儀測試待測材料樣品的吸附?脫附曲線。根據測試數據得到待測材料的孔徑尺寸范圍數據;利用巨正則系綜(GCMC)分子模擬系統,選定待測材料孔徑范圍內的具體數值,搭建模擬計算結構模型,通過不斷增加或降低主體流體的化學勢得到納米孔內流體穩定態和亞穩態組成的吸附滯后環;在吸附滯后環內一給定吸附壓力位置,再選擇一個具有中間狀態的顆粒系統,該方法所涉及的模擬計算可以鑲嵌到測試儀器的分析軟件中,操作簡單,可有效提高納米多孔材料孔徑及比表面積的檢測結果準確度。
聲明:
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