本發明具體涉及一種低聚麥芽糖的測定方法及在產品質量控制領域的應用。本發明提供了一種親水色譜?蒸發光散射檢測器?電噴霧?四級桿?飛行時間串聯質譜(HILIC?ELSD?ESI?Q?TOF/MS)技術用于工業低聚麥芽糖中化學成分的快速鑒別及其含量測定。所述方法,分離度好、靈敏度高,根據高分辨飛行時間質譜技術給出的母離子和子離子的精確分子量信息,并結合標準對照品對各種低聚麥芽糖類成分進行了準確的定性分析,并且可以對沒有標準品的成分進行初步定性鑒別。研究結果為低聚麥芽糖生產企業質量控制和質檢部門進行市場監管提供了分析方法支持。同時也為相關食品、飲料等中添加營養麥芽低聚糖的質量檢測提供了分析方法參考。
聲明:
“低聚麥芽糖的測定方法及在產品質量控制領域的應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)