本發明公開了一種基于比率法檢測DNA芯片熒光信號的方法。它利用一種熒光物質標記寡核苷酸探針和另一種熒光物質標記目標DNA分子,通過檢測DNA芯片上的寡核苷酸探針的點樣量、探針固定量(密度)的熒光強度,控制芯片的制作質量;根據寡核苷酸探針熒光強度與目標分子熒光強度的比值,來衡量該點是否有雜交信號,本發明的優點:該方法能夠監測芯片表面化學處理是否均勻、固定探針是否均勻,同時解決了由于固定探針數量的變化而導致的熒光信號變化的問題。
聲明:
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