本發明涉及一種非直觀成像檢測大氣成分的光學系統和方法,包含:發出參考光和檢測光的光源;對被測物的反射、散射和發光進行收集的收集鏡頭;用于對測量光路的偏振態進行模式化自動調制光波調制系統;將光線聚焦成像的成像鏡頭;配合光波調制系統采用動態模式化掃描方法記錄每一個像素的光場強度變化的CCD像素系統及計算機處理系統。通過該系統和方法可以對被測氣體的結構和成分在空間的變化即時成像,避免采樣誤差,最終得到比其它方法精度和重復性高的圖像以及大氣成分分析結果。該系統不需要特殊光源和化學裝置,造價便宜;測量過程簡便易實施,系統重量輕,適合機載和航天使用。
聲明:
“非直觀成像檢測大氣成分的光學系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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