本發明屬于分析化學技術領域,公開了一種低本底的超痕量離子檢測裝置及方法,該裝置包括濾氣系統和檢測系統,所述濾氣系統包括壓縮空氣氣源、第一吸收瓶、第二吸收瓶、第三吸收瓶和安全瓶,所述檢測系統包括手套箱、大體積自動進樣器、離子色譜儀;所述濾氣系統和檢測系統通過安全瓶和手套箱相連接,大體積自動進樣器置于手套箱內部,還公開了一種檢測方法,該裝置結合方法能夠創造一個低空白的進樣環境,降低空白本底,減少檢測的干擾,大體積進樣能夠提高儀器的靈敏度和準確性,還具有結構簡單、易于操作、運行成本低的優點。
聲明:
“低本底的超痕量離子檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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