本發明公開了一種基于量子弱測量的光學測量儀以及樣品折射率、旋光譜和手性分子對映體含量測量分析方法,本發明基于量子弱測量技術,在測量光路中,以入射光路中的前選擇量子態與反射光路中的第一后選擇量子態之間構造第一量子弱測量光路,以入射光路中的前選擇量子態與折射光路中的第二后選擇量子態之間構造第二量子弱測量光路,通過調整入射光束、反射光束和折射光束偏振態,可以使反射光束自旋分裂值和折射光束自旋分裂值擴大至少103倍,從而實現對樣品折射率極小改變、微弱手征光信號(例如旋光角)、手性分子對映體含量的測定,有望在單分子層面實現對手性藥物的分析;在生物醫學工程、生命科學、分析化學等多個學科領域具有重要應用價值。
聲明:
“基于量子弱測量的光學測量儀以及樣品折射率、旋光譜和手性分子對映體含量測量分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)