本發明屬于電離輻射計量技術,具體涉及一種混合核素γ點源體積樣品效率刻度方法。該方法采用固體混和核素γ點源在探測器周圍的測量結果,并結合蒙特卡羅模擬計算,確定探測器對任意軸對稱形狀體積樣品的探測效率。本發明通過混合核素γ點源在探測器周圍的測量結果,可確定體積樣品探測效率曲線。進而在保證刻度結果量值溯源性的前提下,避免了其它刻度方法(例如標準體積樣品刻度)所帶來的制作工藝復雜、放射性廢物的產生等問題。
聲明:
“混合核素γ點源體積樣品效率刻度方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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