本發明提供了一種淺層不良地質體分布獲取方法、裝置和電子設備,涉及淺層不良地質體分布技術領域,方法包括分別獲取目標區域在第一時期的圖像和第二時期的圖像;分別提取第一時期的圖像和第二時期的圖像中的分類特征;根據提取的分類特征和第一分類器對第一時期的圖像進行分類,得到淺層不良地質體區域分類結果;以及根據提取的分類特征采用第二分類器將第二時期的圖像進行地物分類,得到第一地物分類結果;根據淺層不良地質體區域分類結果和第一地物分類結果得到淺層不良地質體分布圖;本發明能夠方便、快捷、經濟地得到淺層不良地質體分布圖,方法簡單高效,易于實現。
聲明:
“淺層不良地質體分布獲取方法、裝置和電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)